[实用新型]一种用于IC芯片测试的装夹装置

说明书

本实用新型公布了一种用于IC芯片测试的装夹装置，它包括夹台，所述夹台上配设有两组宽度对中夹持块以及两组长度对中夹持块，上述的宽度对中夹持块和长度对中夹持块分别与夹台滑动连接，其后端面均通过弹性件连接推块，在所述夹台的内部设置驱动推块对中装夹的驱动部件，本实用新型提出一种用于IC芯片测试的装夹装置，能够对芯片进行自动定心，且在装夹时避免与芯片刚性接触。

技术领域

本申请涉及芯片测试用具，具体是涉及一种用于IC芯片测试的装夹装置。

背景技术

IC芯片(Integrated Circuit集成电路)是将大量的微电子元器件(晶体管、电阻、电容等)形成的集成电路放在一块塑基上，做成一块芯片，而今几乎所有看到的芯片，都可以叫做IC芯片。

芯片在封装完成后，一般需要对芯片的合格性进行测试，以便将良品和不良品分开，然后，由于芯片属于高精密产品，在进行检测时，需要将检测模具上的探针准确对准芯片上的焊点或引脚，然后现有技术中，芯片在测试时，定位精度不高，无法实现准确检测，且装夹芯片的夹具与芯片刚性接触，容易损坏芯片。

发明内容

本实用新型主要针对以上问题，提出一种用于IC芯片测试的装夹装置，能够对芯片进行自动定心，且在装夹时避免与芯片刚性接触。

为实现上述目的，本实用新型提供了以下技术方案：

根据一方面，本实用新型提供了一种用于IC芯片测试的装夹装置，它包括夹台，所述夹台上配设有两组宽度对中夹持块以及两组长度对中夹持块，上述的宽度对中夹持块和长度对中夹持块分别与夹台滑动连接，其后端面均通过弹性件连接推块，在所述夹台的内部设置驱动推块对中装夹的驱动部件。

作为本实用新型一种用于IC芯片测试的装夹装置的一种改进，所述的宽度对中夹持块沿长度方向设置至少一组夹柱，所述夹柱具有用于承载芯片的宽度夹持口；所述长度对中夹持块具有用于承载芯片的长度夹持口。

作为本实用新型一种用于IC芯片测试的装夹装置的一种改进，所述夹台中部设置有槽口，所述槽口的台面上分别安装有与宽度对中夹持块和长度对中夹持块滑动设置的滑轨，所述宽度对中夹持块和长度对中夹持块分别开设有与所述滑轨配合的滑口。

作为本实用新型一种用于IC芯片测试的装夹装置的一种改进，所述的驱动部件包括呈上下交叉配置的第一丝杆和第二丝杆，所述的第一丝杆和第二丝杆的一端分别穿过推块与推块螺纹连接，另一端分别设置大齿轮组与经驱动链条连接第一步进电机和第二步进电机的小齿轮组。

作为本实用新型一种用于IC芯片测试的装夹装置的一种改进，所述夹台内部还设置有与推块滑动设置的导杆。

作为本实用新型一种用于IC芯片测试的装夹装置的一种改进，所述夹台上还设置有用于控制第一步进电机和第二步进电机启闭的点触开关。

依据上述技术方案，可以得知，本实用新型提出的一种用于IC芯片测试的装夹装置，相对于现有技术中而言，具有以下有益效果：

1、该装夹装置具有自动定心功能，通过启动点触开关，四个夹持块分别锁紧芯片，定位精度高；

2、通过设置弹性件可避免在装夹过程时与芯片刚性接触，由小齿轮带动大齿轮转动，通过降低装夹速度，使得在定心时可以随时停止；本实用新型的其它有益效果，在具体实施方式中进一阐明。

附图说明

图1为本申请用于IC芯片测试的装夹装置的立体结构示意图。

图2为本申请用于IC芯片测试的装夹装置的局部俯视图。

图3为夹台内部的结构示意图。

图4为宽度对中夹持块通过弹性件与推块连接的结构示意图。