[实用新型]一种芯片测试震动控制装置

权利要求书

1.一种芯片测试震动控制装置，包括控制箱(1)，其特征在于：所述控制箱(1)顶部的后端固定安装有测试屏(2)，所述控制箱(1)的顶部固定安装有测试台(3)，测试台(3)内腔的左右两侧壁均固定安装有稳固柱(4)，稳固柱(4)的内部活动连接有两端均贯穿至测试台(3)外部的蜗杆(5)，蜗杆(5)的左右两侧均固定安装有转头(6)，所述测试台(3)的左右两侧均滑动连接有一端与转头(6)外表面活动连接的限位杆(7)，所述测试台(3)内腔顶部和底部的左右两侧均固定安装有轴承(8)，上下两个所述轴承(8)相对一侧之间固定连接有连接杆(9)，连接杆(9)的外表面固定连接有蜗轮(10)，蜗轮(10)的正面与蜗杆(5)啮合，所述连接杆(9)的外表面且位于蜗轮(10)的顶部固定安装有凸轮(11)，所述测试台(3)内腔的后侧壁固定安装有稳固座(12)，稳固座(12)内腔的左右两侧壁之间固定安装有稳固杆(13)，稳固杆(13)外表面的左右两侧均滑动连接有一端贯穿至测试台(3)外部的固定杆(14)，固定杆(14)相背的一侧分别与左右两个凸轮(11)活动连接，所述固定杆(14)的底部固定安装有一端与稳固座(12)内底壁滑动连接的滑块(15)，所述稳固座(12)内腔的左右两侧壁均固定连接有位于稳固杆(13)外部的稳定弹簧(16)，稳定弹簧(16)相对的一侧均与固定杆(14)固定连接，所述固定杆(14)相对一侧的内部均滑动连接有固定板(17)，固定板(17)的顶部活动连接有压块(18)，压块(18)的顶部固定连接有一端贯穿至固定杆(14)外部的螺栓(19)，螺栓(19)与固定杆(14)螺纹连接。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试震动控制装置，其特征在于：所述稳固柱(4)的数量为两个，两个所述稳固柱(4)均为中空管状，所述测试台(3)的左右两侧均开设有蜗杆通孔。

3.根据权利要求1所述的一种芯片测试震动控制装置，其特征在于：所述转头(6)的外表面开设有限位槽，所述限位槽与限位杆(7)相适配，所述测试台(3)的左右两侧均开设有与限位杆(7)相适配的移动槽。

4.根据权利要求1所述的一种芯片测试震动控制装置，其特征在于：所述凸轮(11)的数量为两个，两个所述凸轮(11)以测试台(3)的中垂线呈对称等距分布。

5.根据权利要求1所述的一种芯片测试震动控制装置，其特征在于：所述稳固座(12)呈U形，所述稳固座(12)的内底壁开设有与滑块(15)相适配的滑槽。

6.根据权利要求1所述的一种芯片测试震动控制装置，其特征在于：所述测试台(3)的顶部开设有与固定杆(14)相适配的移动长孔，所述固定杆(14)相对一侧的内部均开设有与固定板(17)相适配的固定槽，所述固定槽的顶部连通有开设在固定杆(14)上的螺纹孔，所述螺纹孔的孔内壁上开设有与螺栓(19)相适配的螺纹槽。