[实用新型]一种弱化像元失配影响的光电传感检测装置

说明书

本实用新型涉及一种弱化像元失配影响的光电传感检测装置，构建偏置电路模块101、减法电路模块102、第一电流镜DAC模块103、第二电流镜DAC模块104、积分放大电路模块105，通过各电路模块之间的连接关系，构建最终非制冷光电焦平面阵列读出电路，能够减弱像元失配影响，具有低电路噪声、适应性强的优点，能够实现像元失配校正功能，提高光电检测的精度。

技术领域

本实用新型涉及一种弱化像元失配影响的光电传感检测装置，属于非制冷红外焦平面阵列读出电路领域。

背景技术

红外探测是指利用光电等手段检测物体的红外辐射信号并将其转化为电信号的一种技术。微测辐射热计型非制冷红外焦平面探测器利用热敏材料制作微测辐射热计像元，在红外辐射产生温升变化的条件下，从而导致自身的等效电阻改变，进而响应红外探测。微测辐射热计像元采用MEMS工艺制备，然而由于不希望的和不可避免的因素，微测辐射热计像元电阻可能会有很大的差异，产生了像元失配影响，进而出现了电路噪声和非均匀性问题，直接影响到了红外探测器实际工作中所检测信号的准确性，在最坏的情况下，这种非均匀性会使读出电路失效。因此现有技术微测辐射热计型非制冷红外焦平面探测器的检测精度还有待进一步提高。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种弱化像元失配影响的光电传感检测装置，能够减弱像元失配影响，具有低电路噪声、适应性强的优点，能够实现像元失配校正功能，提高光电检测的精度。

本实用新型为了解决上述技术问题采用以下技术方案：本实用新型设计了一种弱化像元失配影响的光电传感检测装置，用于实现像元的红外辐射信号读取，包括偏置电路模块101、减法电路模块102、第一电流镜DAC模块103、第二电流镜DAC模块104、积分放大电路模块105；

其中，偏置电路模块101包括dummy像元支路电路、以及探测像元与盲像元支路电路，用于对探测像元和盲像元进行偏置；

减法电路模块102分别接入dummy像元支路电路的输出端、探测像元与盲像元支路电路的输出端，用于针对该两条支路电路的输出进行减法操作；

第一电流镜DAC模块103接入减法电路模块102的输出端，针对减法电路模块102的输出电流预设比例进行缩放；

第二电流镜DAC模块104接入第一电流镜DAC模块103的输出端、以及偏置电路模块101中dummy像元支路电路的输出端，针对所接入电流按预设比例进行缩放；

积分放大电路模块105接入第二电流镜DAC模块104的输出端、以及偏置电路模块101中探测像元与盲像元支路电路的输出端，针对所接入电流进行积分放大，并进行输出，实现像元的红外辐射信号读取。

作为本实用新型的一种优选技术方案：所述偏置电路模块101中的探测像元与盲像元支路电路中，包括探测像元R_s和盲像元R_b，其中，探测像元R_s的其中一端、盲像元R_b的其中一端分别连接供电电源，探测像元R_s的另一端对接第一MOS晶体管MP1的源端，第一MOS晶体管MP1的栅端分别对接第二MOS晶体管MP2的栅端、第三MOS晶体管MP3的栅端、第四MOS晶体管MP4的栅端，第一MOS晶体管MP1的漏端构成探测像元与盲像元支路电路的第二输出端，同时第一MOS晶体管MP1的漏端对接第二MOS晶体管MP2的源端，第二MOS晶体管MP2的漏端接地；盲像元R_b的另一端对接第三MOS晶体管MP3的源端，第三MOS晶体管MP3的漏端构成探测像元与盲像元支路电路的第一输出端，同时第三MOS晶体管MP3的漏端对接第四MOS晶体管MP4的源端，第四MOS晶体管MP4的漏端接地。