[实用新型]一种用于半导体测试的晶片作表面清理装置

权利要求书

1.一种用于半导体测试的晶片作表面清理装置，包括工作台(1)，其特征在于，所述工作台(1)底部两侧均固定连接有支撑板(2)，所述工作台(1)顶部两侧均固定连接有挡板(3)，所述工作台(1)顶部于两个挡板(3)之间放置有过滤网(4)，两个所述挡板(3)之间固定连接有横杆(5)，所述横杆(5)外活动套设有套管(6)，所述套管(6)顶部固定连接有蓄水箱(7)，所述蓄水箱(7)两侧底部均固定连接有排水管(8)，所述排水管(8)底部固定连接有喷淋管道(9)，所述套管(6)底部固定连接有电动推杆(10)，所述电动推杆(10)底部于两个喷淋管道(9)下方固定连接有毛刷板(11)，所述毛刷板(11)底部设有刷毛(12)，所述毛刷板(11)上开设有多个漏孔(13)。

2.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试的晶片作表面清理装置，其特征在于，所述过滤网(4)顶部滑动连接有放置板(14)，所述放置板(14)顶部两侧均对称铰接有卡扣(15)，两个所述挡板(3)相向的一侧均固定连接有往复推杆(16)，所述往复推杆(16)一端与放置板(14)固定连接。

3.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试的晶片作表面清理装置，其特征在于，所述排水管(8)上安装有调节阀。

4.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试的晶片作表面清理装置，其特征在于，两个所述支撑板(2)之间活动连接有集液屉。

5.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试的晶片作表面清理装置，其特征在于，所述喷淋管道(9)底部设有多个喷水口。

6.根据权利要求2所述的一种用于半导体测试的晶片作表面清理装置，其特征在于，所述放置板(14)底部两侧均固定连接有滑块，所述工作台(1)上水平开设有与滑块相匹配的滑槽。