[实用新型]一种用于超声波检测的组合探头有效

专利信息
申请号: 202020646945.1 申请日: 2020-04-25
公开(公告)号: CN212568627U 公开(公告)日: 2021-02-19
发明(设计)人: 李思远;童凯;刘金星;闫晓航;刘欣;万策;张海龙;张建卫;刘光磊;徐磊 申请(专利权)人: 钢研纳克检测技术股份有限公司
主分类号: G01N29/24 分类号: G01N29/24;G01B17/02
代理公司: 北京维正专利代理有限公司 11508 代理人: 赵万凯
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 超声波 检测 组合 探头
【权利要求书】:

1.一种用于超声波检测的组合探头,包括探头壳体(1)与检测模块(2);所述探头壳体(1)内设空腔、一端设有开口;所述检测模块(2)包括设置于探头壳体(1)开口处的检测晶片(21)、设置于探头壳体(1)内的阻尼块(22)与导线(23);其特征在于:所述检测晶片(21)包括探伤检测晶片与分层测厚检测晶片(c);所述探伤检测晶片与分层测厚检测晶片(c)之间设置有隔声层(3)。

2.根据权利要求1所述的用于超声波检测的组合探头,其特征在于:任一所述检测晶片(21)对应设置一个阻尼块(22)与一根导线(23),所述导线(23)穿过阻尼块(22)连接于检测晶片(21)上;所述隔声层(3)将相邻的检测晶片(21)、相邻的阻尼块(22)均分隔开。

3.根据权利要求1所述的用于超声波检测的组合探头,其特征在于:所述探伤检测晶片设置有两组,两组所述探伤检测晶片对称设置于分层测厚检测晶片(c)的两侧。

4.根据权利要求3所述的用于超声波检测的组合探头,其特征在于:所述探伤检测晶片为横伤检测晶片(a);所述横伤检测晶片(a)远离分层测厚检测晶片(c)的一端向下倾斜设置。

5.根据权利要求4所述的用于超声波检测的组合探头,其特征在于:所述横伤检测晶片(a)的倾斜角度范围为16°~18.5°。

6.根据权利要求3所述的用于超声波检测的组合探头,其特征在于:所述探伤检测晶片为纵伤检测晶片(b);所述纵伤检测晶片(b)远离分层测厚检测晶片(c)的一端向下倾斜设置。

7.根据权利要求4或6所述的用于超声波检测的组合探头,其特征在于:所述分层测厚检测晶片(c)设置有两个;两个所述分层测厚检测晶片(c)沿探头壳体(1)的中线前后设置。

8.根据权利要求3所述的用于超声波检测的组合探头,其特征在于:所述探伤检测晶片包括横伤检测晶片(a)与纵伤检测晶片(b);所述横伤检测晶片(a)与纵伤检测晶片(b)分别设置于分层测厚检测晶片(c)相互垂直的两个侧方向。

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