[实用新型]一种用于超声波检测的组合探头

说明书

本实用新型涉及一种用于超声波检测的组合探头，包括探头壳体与检测模块；所述探头壳体内设空腔、一端设有开口；所述检测模块包括设置于探头壳体开口处的检测晶片、设置于探头壳体内的阻尼块与导线；所述检测晶片包括探伤检测晶片与分层测厚检测晶片；所述探伤检测晶片与分层测厚检测晶片之间设置有隔声层。将探伤检测晶片与分层测厚检测晶片设置于一个探头内，并利用隔声层进行分隔防干扰，从而利用一个探头能够同时对管材进行缺陷探伤和分层测厚检测，不需要在自动化探伤设备中同时安装探伤探头和测厚探头。本超声波组合探头结构紧凑，节省了设备的内部空间，减少了操作的复杂性，有效的提高了检测效率，具有很好的可靠性及实用性。

技术领域

本实用新型涉及超声波检测的技术领域，特别涉及一种用于超声波检测的组合探头。

背景技术

随着工业生产对检测效率和检测可靠性要求的不断提高，人们要求超声检测更加快速，缺陷的显示更加直观，对缺陷的描述更加准确。特别是对于规则的板、棒、管（石油业、军工业等）类大批量生产的产品的质量和效率起着至关重要的作用，一旦因产品缺陷而引发事故，往往是灾难性的。

现有技术中授权公告号为CN201016962Y的中国专利文件公开了一种用于检测薄层合金粘结质量的超声波探头，包括壳体、信号转接头、阻尼块、压电晶片、延迟块，信号转接头安装在壳体的顶部，阻尼块与压电晶片上下层叠地设置在壳体内，信号转接头通过电缆线与压电晶片连接，延迟块则设置于壳体底部将壳体封盖，其上端伸入到壳体内并紧贴在压电晶片的下侧面上。

上述中的现有技术方案存在以下缺陷：上述超声波探头与常规的探头区别就在于增设一延迟块，其结构种类单一，同一超声波探头只能对同一种缺陷进行检测。当需要检测的缺陷较多时，需要多种超声波探头同时对被检测工件进行检测，因此所需配套的机械结构占用空间大，需要的探头数量多，造成结构复杂，实际工作中操作复杂，运行成本和维护成本大量增加。因此需要一种技术先进、结构紧凑的超声波探头进行检测。

实用新型内容

针对现有技术存在的不足，本实用新型的目的是提供一种用于超声波检测的组合探头，

本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：

一种用于超声波检测的组合探头，包括探头壳体与检测模块；所述探头壳体内设空腔、一端设有开口；所述检测模块包括设置于探头壳体开口处的检测晶片、设置于探头壳体内的阻尼块与导线；所述检测晶片包括探伤检测晶片与分层测厚检测晶片；所述探伤检测晶片与分层测厚检测晶片之间设置有隔声层。

通过采用上述技术方案，将探伤检测晶片与分层测厚检测晶片设置于一个探头内，并利用隔声层进行分隔防干扰，从而利用一个探头能够同时对管材进行缺陷探伤和分层测厚检测，不需要在自动化探伤设备中同时安装探伤探头和测厚探头。本超声波组合探头结构紧凑，节省了设备的内部空间，减少了操作的复杂性，有效的提高了检测效率，具有很好的可靠性及实用性。

本实用新型进一步设置为：任一所述检测晶片对应设置一个阻尼块与一根导线，所述导线穿过阻尼块连接于检测晶片上；所述隔声层将相邻的检测晶片、相邻的阻尼块均分隔开。

通过采用上述技术方案，利用隔声层同时将检测晶片之间、阻尼块之间相互分隔开来，从而保证相邻的检测晶片在振动时所发出的超声波不会相互干扰，而阻尼块在吸收检测晶片背面发射出来的超声波时同样不会相互干扰。

本实用新型进一步设置为：所述探伤检测晶片设置有两组，两组所述探伤检测晶片对称设置于分层测厚检测晶片的两侧。

通过采用上述技术方案，由于分层测厚检测晶片在检测时需要垂直正对管材表面，则于其两侧设置两组探伤检测晶片能够减少检测盲区，且增大了检测面积。

本实用新型进一步设置为：所述探伤检测晶片为横伤检测晶片；所述横伤检测晶片远离分层测厚检测晶片的一端向下倾斜设置。