[实用新型]一种集成电路测试探针卡及测试系统保护结构

权利要求书

1.一种集成电路测试探针卡及测试系统保护结构，包括固定块(1)，其特征在于，所述固定块(1)上设有滑动槽(9)，所述固定块(1)内设有安装通槽(2)，所述安装通槽(2)内设有转动吸附块(4)，所述安装通槽(2)内滑动连接有测试探针(5)，所述固定块(1)上设有用于实现连接线连通测试探针的转轴机构，所述固定块(1)上设有用于实现两个测试探针连接的连接机构，所述固定块(1)上固定连接有安装块，所述安装块上设有用于实现测试探针转动的连杆机构。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试探针卡及测试系统保护结构，其特征在于，所述转轴机构包括设置在固定块(1)上的转动槽(11)，所述转动槽(11)内转动连接有连接轴(13)，所述连接轴(13)上固定连接有连接块(12)，所述连接轴(13)上滑动连接有卡接杆，所述卡接杆末端连接有安装通槽(2)。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试探针卡及测试系统保护结构，其特征在于，所述连接机构包括设置在固定块(1)上的连接槽(14)与对应连接槽(14)的对接块(16)，所述连接槽(14)内设有卡接槽(18)，所述连接槽(14)内滑动连接有对接板(15)，所述对接板(15)的末端设有配合槽(20)，所述对接板(15)的末端固定连接有卡接块(19)，所述卡接块(19)上固定连接有弹簧杆(21)，所述弹簧杆(21)滑动连接在对接板(15)内，所述卡接块(19)滑动连接在卡接槽(18)内，所述对接块(16)上固定连接有卡块(17)。

4.根据权利要求1所述的一种集成电路测试探针卡及测试系统保护结构，其特征在于，所述连杆机构包括套设在连接线的套管(8)，所述套管(8)上转动连接有第一连接杆(7)，所述第一连接杆(7)上转动连接有第二连接杆(6)，所述第二连接杆(6)的末端固定连接有推动套管(3)，所述第二连接杆(6)的下端面固定连接有滑动块(10)，所述滑动块(10)滑动连接在滑动槽(9)内。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路测试探针卡及测试系统保护结构，其特征在于，所述固定块(1)为热塑型塑料材质。

6.根据权利要求2所述的一种集成电路测试探针卡及测试系统保护结构，其特征在于，所述连接块(12)、连接轴(13)与测试探针(5)材质相同。