[实用新型]测量耦光平台有效
| 申请号： | 202020747167.5 | 申请日： | 2020-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN212207745U | 公开（公告）日： | 2020-12-22 |
| 发明（设计）人： | 黄柏昭;傅从信;罗丕丞;邓亚欣;邱欣男;何宗谕;刘贵全 | 申请（专利权）人： | 华星光通科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G02B6/32 | 分类号： | G02B6/32;G02B6/42 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 陈小雯 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测量 平台 | ||
1.一种测量耦光平台，其特征在于，该测量耦光平台包含：
第一多模光纤；
第一透镜组，包含第一准直透镜及第一聚焦透镜，该第一准直透镜准直一待测元件发出的多个光束，而该第一聚焦透镜将准直后的该些光束聚焦至该第一多模光纤的纤芯；以及
第一五轴平台，用于将该第一多模光纤及该第一透镜组与该待测元件对位以进行耦光，使该些光束被该第一聚焦透镜聚焦后进入该第一多模光纤的纤芯。
2.如权利要求1所述的测量耦光平台，其特征在于，该第一多模光纤连接至具多模光纤输入接口的测量仪器。
3.如权利要求1所述的测量耦光平台，其特征在于，该第一准直透镜的数值孔径的范围为0.45～0.7，而该第一聚焦透镜的数值孔径的范围为0.1～0.3。
4.如权利要求1所述的测量耦光平台，其特征在于，该第一准直透镜及该第一聚焦透镜经过抗反射镀膜处理。
5.如权利要求1所述的测量耦光平台，其特征在于，测量耦光平台还包含第二多模光纤、第二透镜组及单模光纤，该第二多模光纤与该第一多模光纤连接，该些光束通过该第一多模光纤、该第二多模光纤及该第二透镜组后到达该单模光纤。
6.如权利要求5所述的测量耦光平台，其特征在于，该第二透镜组包含第二准直透镜及第二聚焦透镜，该第二准直透镜准直该第一多模光纤发出的该些光束，而该第二聚焦透镜将准直后的该些光束聚焦至该单模光纤的纤芯。
7.如权利要求6所述的测量耦光平台，其特征在于，该单模光纤连接至具单模光纤输入接口的测量仪器。
8.如权利要求6所述的测量耦光平台，其特征在于，该第二准直透镜的数值孔径的范围为0.25～0.66，而该第二聚焦透镜的数值孔径为0.1～0.3。
9.如权利要求6所述的测量耦光平台，其特征在于，该第二准直透镜及该第二聚焦透镜经过抗反射镀膜处理。
10.如权利要求6所述的测量耦光平台，其特征在于，该测量耦光平台包含第二五轴平台，该第二五轴平台用于将该第二多模光纤及该第二透镜组与该单模光纤对位以进行耦光。
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