[实用新型]测量耦光平台

说明书

本实用新型公开一种测量耦光平台，其包含第一多模光纤、第一透镜组及第一五轴平台。第一透镜组包含第一准直透镜及第一聚焦透镜，第一准直透镜准直待测元件发出的多个光束，而第一聚焦透镜将准直后的该些光束聚焦。第一五轴平台用于将第一多模光纤及第一透镜组与待测元件对位以进行耦光，使该些光束被第一聚焦透镜聚焦后进入第一多模光纤的纤芯。

技术领域

本实用新型涉及一种测量耦光平台，特别是涉及一种高效率的测量耦光平台。

背景技术

在光通讯产业里，生产制作工艺中为了控管光学元件的高频性，经常需要通过测量仪器对各种光学元件进行能量输入测量，如相对强度噪声(Relative Intensity Noise，RIN)测量、OE测量等；这些测量仪器的输入接口可以是单模光纤(Single mode fiber)或是多模光纤(Multimode fiber)。而在进行测量时，通常需要先通过测量耦光平台执行耦光以将待测元件与测量仪器进行对位，使待测元件发出的光束能进入测量仪器的输入接口。然而，现有的测量耦光平台由于设计上的限制，使测试人员在每次上下料后需要花费很多的时间进行耦光，故使生产制作工艺的效率降低。

尤其，若测量仪器的输入接口为单模光纤时，由于单模光纤的公差容忍度极低(单模光纤的纤芯约只有9um)，因此在生产制作工艺中，测试人员在每次上下料后需要花费更多的耦光时间。

因此，如何有效改善现有技术的测量耦光平台的各种限制已经了成为一个刻不容缓的问题。

实用新型内容

有鉴于上述现有技术的问题，本实用新型的其中一目的在于提供一种测量耦光平台，以解决现有技术的测量耦光平台的各种限制。

为达成上述的目的，本实用新型提出一种测量耦光平台，其可包含第一多模光纤、第一透镜组及第一五轴平台。第一透镜组可包含第一准直透镜及第一聚焦透镜，第一准直透镜可准直待测元件发出的多个光束，而第一聚焦透镜可将准直后的该些光束聚焦。第一五轴平台可用于将第一多模光纤及第一透镜组与待测元件对位以进行耦光，使该些光束被第一聚焦透镜聚焦后可进入第一多模光纤的纤芯。

在一优选的实施例中，第一多模光纤可连接至具多模光纤输入接口的测量仪器。

在一优选的实施例中，第一准直透镜的数值孔径的范围可为0.45～0.7，而第一聚焦透镜的数值孔径的范围可为0.1～0.3。

在一优选的实施例中，第一准直透镜及第一聚焦透镜可经过抗反射镀膜处理。

在一优选的实施例中，测量耦光平台还可包含第二多模光纤、第二透镜组及单模光纤，第二多模光纤可与第一多模光纤连接，该些光束可通过第一多模光纤、第二多模光纤及第二透镜组后到达单模光纤。

在一优选的实施例中，第二透镜组可包含第二准直透镜及第二聚焦透镜，第二准直透镜可准直第一多模光纤发出的该些光束，而第二聚焦透镜可将准直后的该些光束聚焦至单模光纤的纤芯。

在一优选的实施例中，单模光纤可连接至具单模光纤输入接口的测量仪器。

在一优选的实施例中，第二准直透镜的数值孔径的范围可为0.25～0.66，而第二聚焦透镜的数值孔径的范围可为0.1～0.3。

在一优选的实施例中，第二准直透镜及第二聚焦透镜可经过抗反射镀膜处理。

在一优选的实施例中，测量耦光平台还可包含第二五轴平台，第二五轴平台可用于将第二多模光纤及第二透镜组与单模光纤对位以进行耦光。

本实用新型的测量耦光平台，其可具有一或多个下述优点：