[实用新型]一种支持掉电数据随机化的FLASH仿真器

说明书

本实用新型公开了一种支持掉电数据随机化的FLASH仿真器，仿真器包括FLASH接口处理模块、数据通路选择模块、掉电数据随机化模块、擦写控制模块、读控制模块和存储器模块。仿真器通过FLASH接口处理模块产生控制信号，在FLASH擦写高压使能信号有效期间，若掉电数据随机化模块检测到接口掉电，则按照FLASH掉电数据随机化原则生成新数据，并把此新数据写入存储器模块；若掉电数据随机化模块未检测到接口掉电，则把接口原数据写入存储器模块。本实用新型仿真器满足FLASH正常擦写读操作要求，支持FLASH擦写期间接口掉电数据随机化的功能，方便软件程序调试和接口掉电功能测试，提高了开发和测试效率。

技术领域

本实用新型涉及芯片仿真器技术领域，具体涉及一种支持掉电数据随机化的FLASH仿真器。

背景技术

为提高FLASH芯片的可靠性，许多厂商提出了基于FTL(Flash TranslationLayer)技术的软硬件方案，这种方案要求软件设计和测试中，必须支持FLASH芯片掉电和非掉电后的各种数据处理，完成接口掉电功能测试。客户使用的FLASH芯片，在FLASH擦写期间若出现掉电，存储单元数据一般有三种情况：新数据、原数据和随机数据。

基于FLASH芯片软硬件协同开发测试需求，多数FLASH芯片需要在FLASH仿真器上进行FLASH功能和软件设计开发调试。通用的FLASH仿真器，以FPGA(Field ProgrammableGate Array)仿真FLASH芯片的功能，完成FLASH擦写读等基本命令，通过计数器模拟FLASH擦写延时，达到真实FLASH芯片擦写的延时效果。

这类仿真器通常实现了在FLASH擦写期间(擦除和编程命令的高压期间)掉电写入数据两种情况的功能仿真，在FLASH擦写期间未出现掉电现象，则数据被正确写入存储单元；若在FLASH擦写期间出现接口掉电，则数据或是被正确写入存储单元，或是未被写入保持原数据值。没有仿真实际FLASH芯片的第三种随机数据情况，无法满足软件开发和接口掉电测试需求。

针对上述问题，本实用新型提出一种支持掉电数据随机化的FLASH仿真器。FLASH仿真器支持FLASH的擦、写和读操作；FLASH仿真器支持FLASH高压期间接口掉电，数据可能被正确写入、或保持原有数据不变、或写入随机化数据。FLASH仿真器具有在FLASH高压期间掉电数据随机化的功能，便于软件开发和接口掉电测试，以保证软件开发质量。

实用新型内容

本实用新型解决的是FLASH仿真器中如何实现掉电数据随机化的功能，以实现FLASH芯片掉电数据随机化的功能仿真。

为实现上述功能，本实用新型的仿真器，包括：FLASH接口处理模块、数据通路选择模块、掉电数据随机化模块、擦写控制模块、读控制模块和存储器模块。

FLASH接口处理模块，与FLASH控制器接口相连，实现FLASH控制器擦命令、写命令和读命令的接口信号处理功能；FLASH接口处理模块输出高压使能HV_EN信号，控制掉电数据随机化模块和数据通路选择模块；数据通路选择模块，与FLASH接口处理模块、掉电数据随机化模块和读控制模块相连，实现擦写数据和读数据的通路控制功能；掉电数据随机化模块，与数据通路选择模块、擦写控制模块和读控制模块相连，实现FLASH擦写期间掉电生成随机数据值功能，或擦写期间未掉电保持接口原擦写数据值功能；擦写控制模块，与掉电数据随机化模块和存储器模块相连，实现FLASH擦写控制功能；读控制模块，与存储器模块、掉电数据随机化模块和数据通路选择模块相连，读取接口读地址的存储器模块数据，或是读取当前擦写地址的存储器模块数据；存储器模块，与擦写控制模块和读控制模块相连，实现数据的存储和读取功能。