[实用新型]一种半导体激光器芯片检测工装

说明书

本实用新型公开了一种半导体激光器芯片检测工装，包括检测基座，所述检测基座的上端侧壁上设有芯片检测槽，所述芯片检测槽的上方设有用于检测芯片的检测装置，所述芯片检测槽的底壁上嵌设固定连接有冷光灯，所述检测装置的上方设有用于驱动其升降的电缸，所述芯片检测槽的底壁上设有环形凹槽，所述环形凹槽内滑动连接有提升环，所述提升环的上端侧壁上固定连接有两个相互对称的连接折板，所述检测基座的上端侧壁设有两个与连接折板位置相对应的搭扣，所述提升环的下方设有两个相互对称的弹性机构，所述弹性机构包括滑槽、滑杆、滑块和弹簧。本实用新型方便将芯片从芯片检测槽内取出，可提高检测效率，且不易损坏芯片。

技术领域

本实用新型涉及半导体激光器生产用设备技术领域，尤其涉及一种半导体激光器芯片检测工装。

背景技术

半导体激光器又称激光二极管，是用半导体材料作为工作物质的激光器，半导体激光器是最实用最重要的一类激光器，它体积小、寿命长，并可采用简单的注入电流的方式来泵浦，其工作电压和电流与集成电路兼容，因而可与之单片集成，并且还可以用高达GHz的频率直接进行电流调制以获得高速调制的激光输出，由于这些优点，半导体二极管激光器在激光通信、光存储、光陀螺、激光打印、测距以及雷达等方面得到了广泛的应用，半导体激光器的发光主要是通过芯片通电来实现的，芯片的的质量将直接影响到半导体激光器产品的质量，所以说发光芯片的检验在封装过程中显得尤为重要，由于现有技术的不足，在生产过程中，芯片存在一定的次品率，因此需要使用检测装置对其进行检测。

现有的有些半导体激光器芯片检测工装在检测时需要将芯片放置在芯片检测槽内，等检测后再将其取出，但是不方便取出芯片，检测效率低，为此我们提出了一种半导体激光器芯片检测工装，用来解决上述问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种半导体激光器芯片检测工装，其方便将芯片从芯片检测槽内取出，可提高检测效率，且不易损坏芯片。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种半导体激光器芯片检测工装，包括检测基座，所述检测基座的上端侧壁上设有芯片检测槽，所述芯片检测槽的上方设有用于检测芯片的检测装置，所述芯片检测槽的底壁上嵌设固定连接有冷光灯，所述检测装置的上方设有用于驱动其升降的电缸，所述芯片检测槽的底壁上设有环形凹槽，所述环形凹槽内滑动连接有提升环，所述提升环的上端侧壁上固定连接有两个相互对称的连接折板，所述检测基座的上端侧壁设有两个与连接折板位置相对应的搭扣，所述提升环的下方设有两个相互对称的弹性机构，所述弹性机构包括滑槽、滑杆、滑块和弹簧。

优选地，所述检测基座的上端侧壁上固定连接有支架，所述电缸固定连接在支架的上端侧壁上，所述电缸输出轴的末端贯穿支架的上端侧壁并与检测装置的上端侧壁固定连接。

优选地，所述搭扣通过转轴与检测基座的上端侧壁转动连接。

优选地，所述滑槽设置在检测基座位于芯片检测槽的下方侧壁中，所述滑块与滑槽的内壁滑动连接且相抵。

优选地，所述滑杆固定连接在提升环的下端侧壁上，所述滑杆的下端贯穿环形凹槽并延伸至滑槽内，所述滑杆的下端侧壁与滑块的上端侧壁固定连接。

优选地，所述弹簧设置在滑槽内，所述弹簧的上下两端分别与滑块的下端侧壁和滑槽的底部内壁固定连接。

本实用新型具有以下有益效果：

1、通过设置检测基座、芯片检测槽、检测装置、冷光灯、支架和电缸，检测时，人工将待检测半导体激光器芯片放置在芯片检测槽内，控制启动冷光灯，冷光灯灯光朝上发散，可明显检测到芯片的外观裂痕或微孔次品，此时可控制启动电缸，电缸可带动检测装置向下移动，从而对芯片检测槽内的待检测半导体激光器芯片进行检测。