[实用新型]测定用探针

说明书

本实用新型实现特性阻抗实质上不依赖于电路基板的被测定点的信号电极与接地电极的间隔的测定用探针。测定用探针(103)具备：信号探针(S1)，在第1方向(Z轴方向)上延伸；接地探针(G0)，在所述第1方向上延伸；以及匹配用导体(MC)，所述匹配用导体(MC)在与所述第1方向正交的平面方向(+X轴方向)上比所述接地探针(G0)靠近所述信号探针(S1)进行配置，使得由所述信号探针(S1)和所述匹配用导体(MC)构成的线路的特性阻抗成为给定的值，所述信号探针(S1)的前端部(ST)与被检测体的信号电极抵接，所述接地探针(G0)的前端部(GT)与所述被检测体的接地电极抵接。

技术领域

本实用新型涉及测定用探针，该测定用探针具备信号探针以及接地探针，并用于作为被测定对象的高频电路的特性的测定。

背景技术

用于对电路基板上的被测定点的信号进行检测并对形成在电路基板的高频电路的特性进行测定的一般的方法，是如下的方法，即，将从测定装置引出的独立的手持式的探针贴在电路基板的被测定点，并通过测定装置对高频信号进行分析。但是，如果是使用该手持式探针的测定方法，则在存在许多试验部位的情况下，效率差，成为耗费时间的作业。

相对于此，在专利文献1公开了如下的印刷布线电路基板试验装置，其具备：保持印刷布线电路基板的台；以及能够在该台的上方在x、y以及z方向上移动的两个试验头，该印刷布线电路基板试验装置构成为能够变更信号探针与接地探针的间隔。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2000-28673号公报

在专利文献1记载的印刷布线电路基板试验装置中，信号探针与接地探针的间隔会由电路基板的被测定点的信号电极与接地电极的间隔来规定。因此，存在如下的情况，即，未适当地决定信号探针与接地探针的间隔，探针的特性阻抗从规定值偏移。在该情况下，产生阻抗不匹配，不能进行准确的测定。

如果在使信号探针和接地探针不能独立地移动的情况下预先设计好给定的特性阻抗的探针，则能够避免上述特性阻抗的不匹配的问题。但是，存在信号探针与接地探针的间隔根据电路基板的被测定点的部位而变化的情况、信号电极与接地电极的间隔按被测定电路基板的每个种类而不同或即使是同一被测定电路基板上信号电极与接地电极的间隔也不同的情况。在这种情况下，需要准备与这些测定部位相应的多种专用的探针，费时费力，测定工序也会复杂化。

实用新型内容

实用新型要解决的课题

本实用新型的目的在于，提供一种特性阻抗实质上不依赖于电路基板的被测定点的信号电极与接地电极的间隔的高频测定用探针。

用于解决课题的技术方案

本实用新型的测定用探针的特征在于，具备：

信号探针，在第1方向上延伸；

接地探针，在所述第1方向上延伸；以及

匹配用导体，

所述匹配用导体在与所述第1方向正交的平面方向上比所述接地探针靠近所述信号探针进行配置，使得由所述信号探针和所述匹配用导体构成的线路的特性阻抗成为给定的值，

所述信号探针的前端部与被检测体的信号电极抵接，所述接地探针的前端部与所述被检测体的接地电极抵接。

本实用新型的测定用探针的特征在于，具备：

信号探针，在第1方向上延伸；以及

多个接地探针，在所述第1方向上延伸，并包含匹配用接地探针，