[实用新型]一种基于WB芯片与FC芯片共存的双面挖腔陶瓷封装结构有效

专利信息
申请号: 202020913858.8 申请日: 2020-05-27
公开(公告)号: CN211828729U 公开(公告)日: 2020-10-30
发明(设计)人: 胡孝伟;代文亮;伊海伦 申请(专利权)人: 上海芯波电子科技有限公司
主分类号: H01L23/057 分类号: H01L23/057;H01L23/10;H01L25/18
代理公司: 上海乐泓专利代理事务所(普通合伙) 31385 代理人: 王瑞
地址: 201203 上海市浦东新*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 wb 芯片 fc 共存 双面 陶瓷封装 结构
【权利要求书】:

1.一种基于WB芯片与FC芯片共存的双面挖腔陶瓷封装结构,其特征在于:包括陶瓷基板(1)、WB芯片(4)和FC芯片(8),所述陶瓷基板(1)上侧面向内凹陷形成顶面腔一(3)和顶面腔二(7),所述陶瓷基板(1)的下侧面向内凹陷形成底面腔(13),所述顶面腔一(3)和顶面腔二(7)分别贴合有WB芯片(4)和FC芯片(8),所述底面腔(13)内贴合有WB芯片(4)或FC芯片(8)。

2.根据权利要求1所述的一种基于WB芯片与FC芯片共存的双面挖腔陶瓷封装结构,其特征在于:所述WB芯片(4)通过金线(5)与陶瓷基板(1)上的引脚(6)连接,所述FC芯片(8)与陶瓷基板(1)上的锡球(9)连接且填充有点胶层(10)。

3.根据权利要求1所述的一种基于WB芯片与FC芯片共存的双面挖腔陶瓷封装结构,其特征在于:所述陶瓷基板(1)的上侧面覆盖有盖板(12),所述盖板(12)通过可伐环(11)与陶瓷基板(1)固定连接,所述盖板(12)与可伐环(11)接触的区域为阶梯型结构。

4.根据权利要求1所述的一种基于WB芯片与FC芯片共存的双面挖腔陶瓷封装结构,其特征在于:所述顶面腔一(3)和顶面腔二(7)的面积相同或者面积不同。

5.根据权利要求1所述的一种基于WB芯片与FC芯片共存的双面挖腔陶瓷封装结构,其特征在于:所述顶面腔一(3)和顶面腔二(7)内分别设有至少一个WB芯片(4)或至少一个FC芯片(8)。

6.根据权利要求3所述的一种基于WB芯片与FC芯片共存的双面挖腔陶瓷封装结构,其特征在于:所述陶瓷基板(1)上设有焊接层(2),所述可伐环(11)与所述焊接层(2)固定连接。

7.根据权利要求1-6任一项所述的一种基于WB芯片与FC芯片共存的双面挖腔陶瓷封装结构,其特征在于:所述陶瓷基板(1)的下侧面未形成底面腔(13)的区域设有植球(17)。

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