[实用新型]样品承载装置有效
申请号: | 202020977956.8 | 申请日: | 2020-06-02 |
公开(公告)号: | CN212180659U | 公开(公告)日: | 2020-12-18 |
发明(设计)人: | 李阳 | 申请(专利权)人: | 西安奕斯伟硅片技术有限公司 |
主分类号: | G01N23/20025 | 分类号: | G01N23/20025;G01N23/2204;G01B15/04 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 许静;张博 |
地址: | 710065 陕西省西安市*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 样品 承载 装置 | ||
本实用新型涉及一种样品承载装置,用于X射线形貌仪中测试晶圆的X射线形貌像,所述样品承载装置包括基座和设置于所述基座上的样品承载台,所述样品承载装置还包括设置于所述样品承载台的边缘、或围设于所述样品承载台的四周的围挡结构,以及用于对放置于所述样品承载台上的样品进行定位的定位结构;所述定位结构包括多个同心圆标记,多个所述同心圆标记设置于所述样品承载台的承载面上、并以所述承载面的中心点为圆心,所述承载面上设置有表示多个所述同心圆标记的直径的刻度。
技术领域
本实用新型涉及样品检测技术领域,尤其涉及一种样品承载装置。
背景技术
传统的样品承载台的表面非常平整光滑,没有可以防止在手动放样过程中、样品滑落样品台的保护装置,极容易造成测试样品的损坏及仪器的故障;且不能对样品进行定位,当需要对样品进行二次测试的时候,不能在原来测试结果上进行,需要重新测试,极大的浪费了测试时间和资源。
实用新型内容
为了解决上述技术问题,本实用新型提供一种样品承载装置,解决样品易从样品承载台上滑落,且不能进行定位的问题。
为了达到上述目的,本实用新型采用的技术方案是:一种样品承载装置,用于X射线形貌仪中测试晶圆的X射线形貌像,所述样品承载装置包括基座和设置于所述基座上的样品承载台,所述样品承载装置还包括设置于所述样品承载台的边缘、或围设于所述样品承载台的四周的围挡结构,以及用于对放置于所述样品承载台上的样品进行定位的定位结构;
所述定位结构包括多个同心圆标记,多个所述同心圆标记设置于所述样品承载台的承载面上、并以所述承载面的中心点为圆心,所述承载面上设置有表示多个所述同心圆标记的直径的刻度。
可选的,所述定位结构还包括:
设置于所述样品承载台上的定位凹槽,所述定位凹槽为条形结构、由所述承载面的边缘向内延伸、并贯穿多个所述同心圆标记;
可移动的设置于所述定位凹槽上的定位卡扣,用于与放置于样品承载台上的样品接触、以对样品进行定位;
位置信息获取单元,用于获取并显示所述定位卡扣的位置信息。
可选的,所述位置信息获取单元包括:
第一部分,用于以所述承载面的中心点为原点、在所述承载面建立坐标系;
第二部分,用于在所述定位卡扣定位样品后、获取所述定位卡扣的当前位置坐标并显示。
可选的,所述位置信息获取单元包括集成于所述定位卡扣上的数控显示屏。
可选的,多个所述同心圆标记包括靠近所述承载面的边缘的第一同心圆标记和靠近所述承载面的中心点的第二同心圆标记,所述定位凹槽从所述第一同心圆标记远离所述第二同心圆标记的一侧延伸至所述第二同心圆标记远离所述第一同心圆标记的一侧。
可选的,所述定位凹槽沿其延伸方向的中心线所在的直线经过所述承载面的中心点。
可选的,所述定位卡扣采用对X射线的吸收率小于预设值的材料制成。
可选的,所述围挡结构包括均匀设置于所述承载面的边缘的多个定位柱。
可选的,所述围挡结构包括围设于所述样品承载台四周的围栏。
可选的,所述围栏为具有开口的半封闭环式结构。
本实用新型的有益效果是:通过围挡结构的设置防止样品从样品承载台上滑落,通过定位结构的设置,对放置于样品承载台上的样品进行定位,对同一样品进行二次甚至多次测量时,测试数据可在首次测试的基础上进行,极大节省了测试时间和资源。
附图说明
图1表示本实用新型实施例中样品承载装置结构示意图一;
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