[实用新型]一种芯片供电装置

说明书

本实用新型公开了一种芯片供电装置，包括底座，所述底座上水平滑动安装有检测平台，位于所述检测平台的一侧设有支撑座，所述支撑座上竖向滑动安装有导电机构；所述支撑座的顶部还安装有芯片物理检测机构，所述芯片物理检测机构的检测头朝向所述检测平台。在工作中，首先检测平台带动其上放置的bar条滑动至合适的位置，之后，芯片物理检测机构导电机构对bar条上的芯片进行物理检测(如外观检测等)，之后，导电机构向检测平台上的bar条方向滑动、并对bar条上的芯片进行供电。采用该芯片供电装置，不仅实现了对bar条上芯片的物理检测，而且实现了检测后对芯片的在线供电，同时，适用于不同高度芯片的供电，结构简单，物理检测和在线供电效果好。

技术领域

本实用新型属于bar检测技术领域，尤其涉及一种芯片供电装置。

背景技术

bar条是一种其上含多个裸的半导体激光芯片、且有序排列的长条状件，在其封装成器件之前需进行物理检测和多种技术参数的检测，技术参数的检测包括：电气特性、波长特性、发光特性等，其中发光特性包括光强和发散角(水平发散角和竖直发散角)参数的检测，进行上述检测时需要对芯片进行供电，因此需设计一在线供电的芯片供电装置。

实用新型内容

本实用新型提供了一种芯片供电装置，以达到在线供电的目的。

为解决上述技术问题，本实用新型的技术方案是：一种芯片供电装置，包括底座，所述底座上水平滑动安装有检测平台，位于所述检测平台的一侧设有支撑座，所述支撑座上竖向滑动安装有导电机构；所述支撑座的顶部还安装有芯片物理检测机构，所述芯片物理检测机构的检测头朝向所述检测平台。

作为一种改进，所述导电机构包括竖向设置于所述支撑座上的第一直线驱动元件，所述第一直线驱动元件上驱动有滑台，所述滑台上设有安装板，所述安装板上设有支撑臂，所述支撑臂上设有导电探针。

作为进一步的改进，所述支撑臂的数量为两个，对应的所述安装板上设有两个第一微动平台，所述支撑臂设置于所述第一微动平台上。

作为再进一步的改进，所述支撑臂包括安装于所述第一微动平台上的臂体，设有所述导电探针端的所述臂体上设有横向裂缝和竖向裂缝，与所述竖向裂缝对应位置的所述臂体上设有紧固安装孔；

所述臂体的高度方向上设有还设有至少一个探针安装孔，所述探针安装孔与所述竖向裂缝连通，且所述探针安装孔朝所述检测平台方向倾斜设置。

作为更进一步的改进，所述芯片物理检测机构包括设置于所述支撑座顶部的立柱，所述立柱上转动安装有旋转臂，所述旋转臂向所述检测平台方向延伸，位于所述检测平台上方的所述旋转臂上设有检测相机。

作为又进一步的改进，所述支撑座的顶部设有第二微动平台，所述立柱设置于所述第二微动平台上。

作为又进一步的改进，所述底座上设有滑座，所述滑座上设有第二直线驱动元件驱动的滑块，所述滑块上设有所述检测平台。

作为又进一步的改进，所述滑座的两端均设有位置开关，所述滑块上设有与所述位置开关相适配的识别块。

采用了上述技术方案后，本实用新型的效果是：

由于该芯片供电装置包括底座，底座上水平滑动安装有检测平台，位于检测平台的一侧设有支撑座，支撑座上竖向滑动安装有导电机构；支撑座的顶部还安装有芯片物理检测机构，芯片物理检测机构的检测头朝向检测平台，基于上述结构，该芯片供电装置在工作中，首先检测平台带动其上放置的bar条滑动至合适的位置，之后，芯片物理检测机构导电机构对bar条上的芯片进行物理检测(如外观检测等)，之后，导电机构向检测平台上的bar条方向滑动、并对bar条上的芯片进行供电。

综上所述，采用该芯片供电装置，不仅实现了对bar条上芯片的物理检测，而且实现了检测后对芯片的在线供电，同时，适用于不同高度芯片的供电，结构简单，物理检测和在线供电效果好。