[实用新型]一种检查芯片侧面质量工具

权利要求书

1.一种检查芯片侧面质量工具，其特征在于：包括底座(1)、防尘罩(2)和抽屉(5)；

底座(1)：其上表面外沿设有配合槽(102)，配合槽(102)的底面后端对称固定连接有支撑块(101)，支撑块(101)的中部设有安装孔，底座(1)的下表面设有对称分布的支脚(3)，底座(1)的内部前端设有空腔，底座(1)的上表面设有均匀分布的检测槽(4)；

防尘罩(2)：为锥台型结构，防尘罩(2)的后侧底端设有转轴(201)，转轴(201)的两端分别与对应的支撑块(101)的安装孔内壁转动连接，防尘罩(2)的前端与配合槽(102)位置对应；

抽屉(5)：其左右两侧面设有对称分布的滑轨(51)，滑轨(51)与底座(1)内部设置的滑槽内壁滑动连接，抽屉(5)位于底座(1)的空腔内部；

其中：还包括载物板(6)，所述载物板(6)固定连接于抽屉(5)的底板上表面前端。

2.根据权利要求1所述的一种检查芯片侧面质量工具，其特征在于：所述检测槽(4)为倒置的锥台型结构，检测槽(4)的内壁为八个等角度设置的倾斜镜面，检测槽(4)的镜面为凸面。

3.根据权利要求1所述的一种检查芯片侧面质量工具，其特征在于：所述支脚(3)为磁铁支脚。

4.根据权利要求1所述的一种检查芯片侧面质量工具，其特征在于：所述载物板(6)的上表面分别设有凹槽，载物板(6)的凹槽内部分别放置有清洁剂(61)、清洁布(62)和真空吸笔(63)。

5.根据权利要求1所述的一种检查芯片侧面质量工具，其特征在于：所述抽屉(5)的前侧板设有拉手(52)。