[实用新型]一种检查芯片侧面质量工具

说明书

本实用新型公开了一种检查芯片侧面质量工具，包括底座、防尘罩和抽屉；底座：其上表面外沿设有配合槽，配合槽的底面后端对称固定连接有支撑块，支撑块的中部设有安装孔，底座的下表面设有对称分布的支脚，底座的内部前端设有空腔，底座的上表面设有均匀分布的检测槽；防尘罩：为锥台型结构，防尘罩的后侧底端设有转轴，转轴的两端分别与对应的支撑块的安装孔内壁转动连接，防尘罩的前端与配合槽位置对应；抽屉：其左右两侧面设有对称分布的滑轨，该检查芯片侧面质量工具，提升了观察的质量，操作方便，提高了检查效率，防护性能好，保证了检查结果的准确度，提高了实用性能，延长了使用寿命。

技术领域

本实用新型涉及芯片检查工具技术领域，具体为一种检查芯片侧面质量工具。

背景技术

晶体管发明并大量生产之后，各式固态半导体组件如二极管、晶体管等大量使用，取代了真空管在电路中的功能与角色，到了20世纪中后期半导体制造技术进步，使得集成电路成为可能，相对于手工组装电路使用个别的分立电子组件，集成电路可以把很大数量的微晶体管集成到一个小芯片，是一个巨大的进步，集成电路的规模生产能力，可靠性，电路设计的模块化方法确保了快速采用标准化集成电路代替了设计使用离散晶体管，集成电路对于离散晶体管有两个主要优势：成本和性能，成本低是由于芯片把所有的组件通过照相平版技术，作为一个单位印刷，而不是在一个时间只制作一个晶体管，性能高是由于组件快速开关，消耗更低能量，因为组件很小且彼此靠近，2006年，芯片面积从几平方毫米到350mm²，每mm²可以达到一百万个晶体管，这些年来，集成电路持续向更小的外型尺寸发展，使得每个芯片可以封装更多的电路，这样增加了每单位面积容量，可以降低成本和增加功能，芯片在包装前需要对外观进行检查，传统的检查方式是通过眼睛直接对芯片的侧壁进行观察，然而由于芯片体积较小，直接眼睛观测很难发现芯片侧壁存在的微小缺陷，导致检查结果不理想，而且效率低下，而且手持芯片进行检查操作很不方便，品质难以管控，为此，我们提出一种检查芯片侧面质量工具解决上述缺陷。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是克服现有的缺陷，提供一种检查芯片侧面质量工具，提升了观察的质量，操作方便，提高了检查效率，防护性能好，保证了检查结果的准确度，提高了实用性能，延长了使用寿命，可以有效解决背景技术中的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种检查芯片侧面质量工具，包括底座、防尘罩和抽屉；

底座：其上表面外沿设有配合槽，配合槽的底面后端对称固定连接有支撑块，支撑块的中部设有安装孔，底座的下表面设有对称分布的支脚，底座的内部前端设有空腔，底座的上表面设有均匀分布的检测槽；

防尘罩：为锥台型结构，防尘罩的后侧底端设有转轴，转轴的两端分别与对应的支撑块的安装孔内壁转动连接，防尘罩的前端与配合槽位置对应；

抽屉：其左右两侧面设有对称分布的滑轨，滑轨与底座内部设置的滑槽内壁滑动连接，抽屉位于底座的空腔内部；

其中：还包括载物板，所述载物板固定连接于抽屉的底板上表面前端，便于作业人员进行详细观察，提升了观察的质量，操作方便，提高了检查效率，防护性能好，方便实时对检测槽的内侧面进行清理，保证了检查结果的准确度，提高了实用性能，延长了使用寿命。

进一步的，所述检测槽为倒置的锥台型结构，检测槽的内壁为八个等角度设置的倾斜镜面，检测槽的镜面为凸面，凸面具有发散光线的作用，可以扩散对芯片侧面的反射，从而方便人们进行观察，提高检查质量。

进一步的，所述支脚为磁铁支脚，对底座进行轻微固定，避免在检查时底座发生晃动，提高稳定性。

进一步的，所述载物板的上表面分别设有凹槽，载物板的凹槽内部分别放置有清洁剂、清洁布和真空吸笔，清洁剂和清洁布用于及时对有污物的检测槽内壁面进行清理，避免影响检查结果，真空吸笔方便对芯片进行夹持，提高检查的效率。