[实用新型]一种多功能芯片测试插座

权利要求书

1.一种多功能芯片测试插座，包括测试插座（1），其特征在于：所述测试插座（1）内壁的左右两侧面均开设有凹槽（2），且两个凹槽（2）内均卡接有卡块（3），所述卡块（3）的下表面固定连接有滑块（4），所述滑块（4）滑动连接在滑槽（7）内，所述滑槽（7）开设在测试壳（5）内壁的下表面，所述测试壳（5）卡接设置在测试插座（1）内，所述滑槽（7）内壁的右侧面固定连接有第一弹性装置（6），所述第一弹性装置（6）的左端与滑块（4）的右侧面固定连接，且两个卡块（3）的相对面均设置有滑轮（8），两个所述滑轮（8）的相对面滑动连接有同一个卡杆（9），所述卡杆（9）的顶端设置有卡板（10），所述卡板（10）的下表面与测试插座（1）的上表面搭接。

2.根据权利要求1所述的一种多功能芯片测试插座，其特征在于：所述卡杆（9）的外表面设置有两个放置板（11），且两个放置板（11）的上表面均固定连接有第二弹性装置（12），所述第二弹性装置（12）的顶端与测试壳（5）内壁的上表面固定连接，所述测试壳（5）的左右两侧面通过销轴（13）分别与两个活动块（14）的下表面活动连接。

3.根据权利要求1所述的一种多功能芯片测试插座，其特征在于：所述测试壳（5）内设置有挡板（19），所述挡板（19）的背面设置有测试板（15），所述测试板（15）滑动连接在测试壳（5）内，所述测试板（15）的背面开设有卡槽（16），所述卡槽（16）内卡接有芯片（17）。

4.根据权利要求1所述的一种多功能芯片测试插座，其特征在于：所述卡板（10）的上表面设置有拉环（18），所述拉环（18）的外表面设置有防滑纹路，所述卡杆（9）的底端设置为弧形，所述滑块（4）和滑槽（7）的横截面均设置为T字形。

5.根据权利要求1所述的一种多功能芯片测试插座，其特征在于：所述第一弹性装置（6）包括第一伸缩杆（62），所述第一伸缩杆（62）的外表面套接有第一弹簧（61），所述第一弹簧（61）和第一伸缩杆（62）的两端分别与滑块（4）的右侧面和滑槽（7）内壁的右侧面固定连接。

6.根据权利要求2所述的一种多功能芯片测试插座，其特征在于：所述第二弹性装置（12）包括第二伸缩杆（122），所述第二伸缩杆（122）的外表面套接有第二弹簧（121），所述第二弹簧（121）和第二伸缩杆（122）的两端分别与放置板（11）的上表面和测试壳（5）内壁的上表面固定连接。