[实用新型]一种多功能芯片测试插座

说明书

本实用新型公开了一种多功能芯片测试插座，属于芯片测试插座技术领域，其包括测试插座，所述测试插座内壁的左右两侧面均开设有凹槽，且两个凹槽内均卡接有卡块，所述卡块的下表面固定连接有滑块，所述滑块滑动连接在滑槽内，所述滑槽开设在测试壳内壁的下表面，所述测试壳卡接设置在测试插座内。该多功能芯片测试插座，通过设置测试壳、拉环、测试板、活动块、滑块和第二弹簧，使得工作人员在需要将芯片取出时，只需向上拉动拉环即可，在需要安装时，只需通过活动块就可以对芯片进行固定，不仅方便了工作人员安装或取出芯片，且大大提高了检测的效率，减少了大部分繁琐的步骤，且在检测时，芯片不易出现掉落的情况。

技术领域

本实用新型属于芯片测试插座技术领域，具体为一种多功能芯片测试插座。

背景技术

随着时代的发展和科技的进步，智能化、芯片化逐渐在人们的生活中普及，然而在生产芯片时，工作人员人员往往需要多次的UI芯片进行检测的查修，目前市场上大部分的芯片测试插座在进行检测时，往往需要放置在指定的测试插座中，但对于芯片的放置却较为麻烦，不仅需要多步插取，且插取的过程较为麻烦，使得工作人员检测的效率大大下降。

实用新型内容

（一）解决的技术问题

为了克服现有技术的上述却陷，本实用新型提供了一种多功能芯片测试插座，解决了目前市场上大部分的芯片测试插座在进行检测时，往往需要放置在指定的测试插座中，但对于芯片的放置却较为麻烦，不仅需要多步插取，且插取的过程较为麻烦，使得工作人员检测效率大大下降的问题。

（二）技术方案

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种多功能芯片测试插座，包括测试插座，所述测试插座内壁的左右两侧面均开设有凹槽，且两个凹槽内均卡接有卡块，所述卡块的下表面固定连接有滑块，所述滑块滑动连接在滑槽内，所述滑槽开设在测试壳内壁的下表面，所述测试壳卡接设置在测试插座内，所述滑槽内壁的右侧面固定连接有第一弹性装置，所述第一弹性装置的左端与滑块的右侧面固定连接，且两个卡块的相对面均设置有滑轮，两个所述滑轮的相对面滑动连接有同一个卡杆，所述卡杆的顶端设置有卡板，所述卡板的下表面与测试插座的上表面搭接。

作为本实用新型的进一步方案：所述卡杆的外表面设置有两个放置板，且两个放置板的上表面均固定连接有第二弹性装置，所述第二弹性装置的顶端与测试壳内壁的上表面固定连接，所述测试壳的左右两侧面通过销轴分别与两个活动块的下表面活动连接。

作为本实用新型的进一步方案：所述测试壳内设置有挡板，所述挡板的背面设置有测试板，所述测试板滑动连接在测试壳内，所述测试板的背面开设有卡槽，所述卡槽内卡接有芯片。

作为本实用新型的进一步方案：所述卡板的上表面设置有拉环，所述拉环的外表面设置有防滑纹路，所述卡杆的底端设置为弧形，所述滑块和滑槽的横截面均设置为T字形。

作为本实用新型的进一步方案：所述第一弹性装置包括第一伸缩杆，所述第一伸缩杆的外表面套接有第一弹簧，所述第一弹簧和第一伸缩杆的两端分别与滑块的右侧面和滑槽内壁的右侧面固定连接。

作为本实用新型的进一步方案：所述第二弹性装置包括第二伸缩杆，所述第二伸缩杆的外表面套接有第二弹簧，所述第二弹簧和第二伸缩杆的两端分别与放置板的上表面和测试壳内壁的上表面固定连接。

（三）有益效果

与现有技术相比，本实用新型的有益效果在于：