[实用新型]用于三坐标测量设备的检测模块和三坐标测量设备有效

专利信息
申请号: 202021044832.0 申请日: 2020-06-09
公开(公告)号: CN212007120U 公开(公告)日: 2020-11-24
发明(设计)人: 冯摇 申请(专利权)人: 捷普电子(新加坡)公司
主分类号: G01B21/00 分类号: G01B21/00
代理公司: 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 代理人: 南霆
地址: 新加*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 坐标 测量 设备 检测 模块
【权利要求书】:

1.一种用于三坐标测量设备的检测模块,其特征在于,包括第一基准面(101)、第二基准面(102)和第三基准面(103),其中,所述第一基准面(101)、所述第二基准面(102)和所述第三基准面(103)中的至少一者设置有检测结构(107)。

2.根据权利要求1所述的用于三坐标测量设备的检测模块,其特征在于,所述第一基准面(101)、所述第二基准面(102)和所述第三基准面(103)相互垂直。

3.根据权利要求2所述的用于三坐标测量设备的检测模块,其特征在于,所述检测模块包括第四基准面(104)和第五基准面(105),其中,所述第四基准面(104)与所述第一基准面(101)相互平行,所述第五基准面(105)与所述第二基准面(102)相互平行。

4.根据权利要求3所述的用于三坐标测量设备的检测模块,其特征在于,所述第一基准面(101)、所述第二基准面(102)、所述第三基准面(103)、所述第四基准面(104)和所述第五基准面(105)均设置有所述检测结构(107)。

5.根据权利要求4所述的用于三坐标测量设备的检测模块,其特征在于,所述第一基准面(101)、所述第二基准面(102)、所述第三基准面(103)、所述第四基准面(104)和所述第五基准面(105)分别设置有不同类型的所述检测结构(107)。

6.根据权利要求5所述的用于三坐标测量设备的检测模块,其特征在于,所述检测结构(107)包括柱形测针检测结构(1071)和球形测针检测结构(1072)。

7.根据权利要求4-6中任意一项所述的用于三坐标测量设备的检测模块,其特征在于,所述检测模块包括模块本体(100)和底座(200),所述第一基准面(101)、所述第二基准面(102)、所述第三基准面(103)、所述第四基准面(104)、所述第五基准面(105)设置于所述模块本体(100),所述模块本体(100)安装于所述底座(200)。

8.根据权利要求7所述的用于三坐标测量设备的检测模块,其特征在于,所述检测模块包括连接杆(300),所述连接杆(300)的一端安装于所述模块本体(100),所述连接杆(300)的另一端安装于所述底座(200)。

9.根据权利要求8所述的用于三坐标测量设备的检测模块,其特征在于,所述模块本体(100)包括第六基准面(106),所述第六基准面(106)与所述第三基准面(103)相互平行,所述连接杆(300)的所述一端安装于所述第六基准面(106)。

10.一种三坐标测量设备,其特征在于,包括移动臂(400)、测量平台(700)和根据权利要求1-9中任意一项所述的用于三坐标测量设备的检测模块,所述移动臂(400)的一端安装有测针(500),所述检测模块能够固定安装于所述测量平台(700)。

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