[实用新型]用于三坐标测量设备的检测模块和三坐标测量设备有效

专利信息
申请号: 202021044832.0 申请日: 2020-06-09
公开(公告)号: CN212007120U 公开(公告)日: 2020-11-24
发明(设计)人: 冯摇 申请(专利权)人: 捷普电子(新加坡)公司
主分类号: G01B21/00 分类号: G01B21/00
代理公司: 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 代理人: 南霆
地址: 新加*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 坐标 测量 设备 检测 模块
【说明书】:

实用新型公开一种用于三坐标测量设备的检测模块,所公开的检测模块包括第一基准面(101)、第二基准面(102)和第三基准面(103),其中,所述第一基准面(101)、所述第二基准面(102)和所述第三基准面(103)中的至少一者设置有检测结构(107)。上述用于三坐标测量设备的检测模块能解决目前的三坐标测量设备出现数据异常时难以快速分析出异常原因的问题。本实用新型公开一种三坐标测量设备,所公开的三坐标测量设备包括移动臂(400)、测量平台(700)和根据上文所述的用于三坐标测量设备的检测模块,所述移动臂(400)的一端安装有测针(500),所述检测模块能够固定安装于所述测量平台(700)。

技术领域

本实用新型涉及三坐标测量技术领域,尤其涉及一种用于三坐标测量设备的检测模块。

背景技术

三坐标测量设备能够在三维可测的空间范围内,根据测针系统返回的点数据,通过三坐标测量设备的软件系统计算各类工件的几何形状、尺寸等,广泛应用于精密零件制造业。为了准确测量出工件的尺寸,三坐标测量设备通常需要使用不同型号的多组测针才能完成测量,测量过程中容易出现问题导致数据异常,例如,测针关联误差、测针磨损、测针脏污、加长杆垂直度误差等。在三坐标测量设备出现数据异常时,常见的处理方法是通过重新校验测针、校验设备、重复测量、与其它测量设备进行比对等方法逐步去分析验证,通常需要4至5个小时才能分析出异常原因,浪费时间且严重影响三坐标测量设备的工作效率。

因此,希望有一种装置能够克服或者至少减轻现有技术的上述缺陷。

实用新型内容

本实用新型公开一种用于三坐标测量设备的检测模块,以解决目前的三坐标测量设备出现数据异常时难以快速分析出异常原因的问题。

为了解决上述问题,本实用新型采用下述技术方案:

第一方面,本实用新型实施例提供一种用于三坐标测量设备的检测模块,所述检测模块包括第一基准面、第二基准面和第三基准面,其中,所述第一基准面、所述第二基准面和所述第三基准面中的至少一者设置有检测结构。

第二方面,本实用新型实施例提供一种三坐标测量设备,包括移动臂、测量平台和根据上文所述的用于三坐标测量设备的检测模块,所述移动臂的一端安装有测针,所述底座能够固定安装于所述测量平台。

本实用新型采用的技术方案能够达到以下有益效果:

本实用新型实施例公开的用于三坐标测量设备的检测模块中,检测模块包括第一基准面、第二基准面和第三基准面,并且在至少一个基准面上设置有检测结构,三坐标测量设备可测量检测结构以获取测量数据,然后将测量数据与标准数据进行比对即可快速发现数据异常,并根据数据异常情况进行分析,可快速找到异常原因,从而可快速排除三坐标测量设备的故障,保障设备的测量精度,并且节约排除故障所需的人力、财力和时间。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本实用新型的进一步理解,构成本实用新型的一部分,本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型,并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中:

图1为根据本实用新型的一种实施方式的三坐标测量设备的示意图;

图2为图1所示的三坐标测量设备中的检测模块的主视图;

图3为图2所示的检测模块的右视图;

图4为图2所示的检测模块的俯视图;

图5为图2所示的检测模块的后视图;

图6为图2所示的检测模块的左视图。

附图标记说明:

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