[实用新型]激光器芯片测试一体设备有效
申请号: | 202021130245.3 | 申请日: | 2020-06-17 |
公开(公告)号: | CN213275842U | 公开(公告)日: | 2021-05-25 |
发明(设计)人: | 徐鹏嵩;郭孝明;朱晶;王凯旋 | 申请(专利权)人: | 苏州联讯仪器有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04 |
代理公司: | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人: | 王健 |
地址: | 215011 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 激光器 芯片 测试 一体 设备 | ||
1.一种激光器芯片测试一体设备,其特征在于:包括机架(1)、安装于机架(1)的基板(101)上的测试座(2)、驱动机构(3)和测试探头(4),所述驱动机构(3)安装于基板(101)上,所述测试探头(4)可移动地安装于驱动机构(3)上,并位于测试座(2)上方;
所述驱动机构(3)进一步包括Z轴组件(301)、与Z轴组件(301)活动连接的Y轴组件(302)、X轴电机(303)和两个平行设置的X轴导轨(304),所述Z轴组件(301)上安装有测试探头(4),用于驱动测试探头(4)上下移动,此Z轴组件(301)安装于Y轴组件(302)上,并可沿Y轴方向往复运动,所述Y轴组件(302)的两端分别设置有一滑块(305),两个所述滑块(305)分别与两个X轴导轨(304)滑动连接,使Y轴组件(302)可沿X轴方向往复运动;所述测试座(2)进一步包括测试基板(21)、加热片(22)和底板(23),所述底板(23)位于测试基板(21)正下方,所述加热片(22)设置于测试基板(21)与底板(23)之间,所述加热片(22)的中央开设有一通孔(24)。
2.根据权利要求1所述的激光器芯片测试一体设备,其特征在于:两个所述X轴导轨(304)中的一个导轨为丝杆(306),此丝杆(306)的一端与所述X轴电机(303)连接,两个所述滑块(305)中的一个滑块(305)套装于丝杆(306)上,并与丝杆(306)螺纹连接。
3.根据权利要求1所述的激光器芯片测试一体设备,其特征在于:所述通孔(24)为工字型通孔。
4.根据权利要求1所述的激光器芯片测试一体设备,其特征在于:所述测试基板(21)上方两侧分别设置有一压条(25)。
5.根据权利要求1所述的激光器芯片测试一体设备,其特征在于:所述测试基板(21)通过设置于其下表面两端的支撑座(26)与基板(101)固定连接。
6.根据权利要求1所述的激光器芯片测试一体设备,其特征在于:所述测试基板(21)上表面设置有至少两个定位销(27)。
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