[实用新型]一种半导体的测试装置

权利要求书

1.一种半导体的测试装置，其特征在于，包括，

基板；

第一固定装置，设置在所述基板上；

第二固定装置，设置在所述基板上，位于所述第一固定装置的一侧，所述第一固定装置通过所述基板内的电路连接所述第二固定装置；

第三固定装置，设置在所述基板上，位于所述第二固定装置远离所述第一固定装置的一侧。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述基板上设置有第一开孔，所述第一开孔的四周设置有防静电软垫。

3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述第一固定装置包括：

第一卡槽；

多个第一夹具，设置于所述第一卡槽内；

标尺，设置在所述第一卡槽上，所述标尺上设置有刻度线，所述刻度线与多个所述第一夹具位置相对应；

多个第一插针，其一端设置于所述第一卡槽内，另一端延伸出所述第一卡槽，且位于所述第一卡槽内的一端与所述第一夹具连接。

4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述第一固定装置的两端还设置有对位孔。

5.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述第二固定装置包括：

第二卡槽，包括第一盖板和第一底板，所述第一盖板可转动地连接在所述第一底板上；

第一卡扣，设置在所述第一盖板上；

第一凹部，设置在所述第一底板上，其中，所述第一卡扣与所述第一凹部位置对应；

多个第二夹具，设置于所述第二卡槽内；

多个第二插针，其一端设置于所述第二卡槽内，另一端延伸出所述第二卡槽，且位于所述第二卡槽内的一端与所述第二夹具连接。

6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述第二固定装置上还设有对位针，所述对位针设置于所述第一底板的两端。

7.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述第三固定装置包括：

第二盖板；

主架，其中，所述第二盖板可转动地连接在所述主架上；

第二卡扣，设置在所述第二盖板上；

第二凹部，设置在所述主架上，其中，所述第二卡扣与所述第二凹部位置对应；

第二开孔，设置在所述第二盖板上；

第三开孔，设置在所述主架上。

8.根据权利要求7所述的测试装置，其特征在于，所述第一开孔、所述第二开孔和所述第三开孔的位置相对应。

9.根据权利要求7所述的测试装置，其特征在于，所述第二开孔的周围设有防静电软垫。

10.根据权利要求7所述的测试装置，其特征在于，所述第一固定装置，所述第二固定装置和所述第三固定装置上分别设置有固定部，通过所述固定部将所述第一固定装置，所述第二固定装置和所述第三固定装置固定在所述基板上。