[实用新型]一种金刚石基欧姆接触结构有效
申请号: | 202021193069.8 | 申请日: | 2020-06-24 |
公开(公告)号: | CN212461601U | 公开(公告)日: | 2021-02-02 |
发明(设计)人: | 张鹏飞;陈伟东;张少鹏;王宏兴 | 申请(专利权)人: | 内蒙古工业大学 |
主分类号: | H01L21/285 | 分类号: | H01L21/285;H01L29/45 |
代理公司: | 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 | 代理人: | 刘徐红 |
地址: | 010051 内蒙古*** | 国省代码: | 内蒙古;15 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 金刚石 欧姆 接触 结构 | ||
本实用新型涉及一种金刚石基欧姆接触结构,属于半导体材料与器件技术领域。该金刚石基欧姆接触结构,包括金刚石衬底,金刚石衬底的表面设有欧姆接触电极,欧姆接触电极包括两层金属电极层,接触金刚石衬底的第一电极层为Ni金属层,第一电极层的上层为第二电极层,第二电极层为化学惰性金属层。金刚石衬底表面上还可预先设有单晶金刚石外延薄膜。在金刚石材料衬底上沉积第一电极层,在第一电极层上沉积第二电极层,之后进行快速退火形成耐高温金刚石基欧姆接触结构。本实用新型的金刚石基欧姆接触结构在高温下有良好的热稳定性和电学特性,同时显著提高了金属电极与金刚石材料之间的黏附性。
技术领域
本实用新型涉及一种金刚石基欧姆接触结构,特别涉及金刚石材料欧姆接触电极,属于半导体材料与器件技术领域。
背景技术
金刚石基材料作为第四代宽禁带半导体材料,拥有超宽的禁带宽度,高载流子迁移率,高热导率,高击穿场强和高抗辐射能力等特点,以上的材料特性使其成为制备超大功率和超高频电子器件的理想材料。金刚石薄膜在电子学方面的应用必然会涉及到金属的电极问题,欧姆接触作为金刚石基电子器件制备过程中的关键工艺,对器件的电流密度、工作温度、高功率性能等参数有着关键作用,直接决定了器件在高温、易氧化等极端环境中的工作寿命。理想的欧姆接触的接触电阻相比半导体样品或器件应该很小,在电流通过时其压降应该远小于半导体样品或器件本身的压降,对器件的电流-电压特性无明显影响,从而保护器件性能。
目前,金刚石欧姆接触金属和合金层通常面临比接触电阻率不足,热稳定性差以及粘附性差的缺点,在剥离金属工艺中经常会从金刚石表面脱落。以上缺点直接导致欧姆接触的可靠性降低,直接影响器件整体性能,严重限制其应用范围和环境,进而导致金刚石基电子器件的应用范围和可靠性受到限制。
实用新型内容
鉴于以上背景,本实用新型旨在开发一种金刚石材料欧姆接触电极,以降低欧姆接触比接触电阻率,提高金属电极与金刚石材料黏附性和耐高温特性。
一种金刚石基欧姆接触结构,包括金刚石衬底,所述金刚石衬底的表面设有欧姆接触电极,所述欧姆接触电极包括两层金属电极层,接触金刚石衬底的第一电极层为Ni金属层,第一电极层的上面为第二电极层,第二电极层为化学惰性金属层。
另一种金刚石基欧姆接触结构,包括金刚石衬底,所述金刚石衬底的表面预先设有单晶金刚石外延薄膜,所述的单晶金刚石外延薄膜上设有欧姆接触电极,所述欧姆接触电极包括两层金属电极层,接触单晶金刚石外延薄膜的第一电极层为Ni金属层,第一电极层的上面为第二电极层,第二电极层为化学惰性金属层。
所述的单晶金刚石外延薄膜的厚度为10nm到10微米,采用微波等离子体化学气相沉积(MPCVD)工艺制备得到。
所述第一电极层Ni金属层的厚度为2-200nm,所述的第二电极层化学惰性金属层厚度为20-400nm。
所述的第二电极层化学惰性金属层金属材质为Au、W、Ir、Pd和Pt中的任意一种。
所述第一电极层和所述第二电极层的沉积方式可以是电子束蒸发、磁控溅射、原子层沉积和化学气相沉积等金属镀膜技术。
所述的金刚石衬底材料可以是单晶金刚石薄膜、多晶金刚石薄膜、高温高压金刚石衬底、表面氢化处理过的金刚石、P型掺杂金刚石或N型掺杂金刚石。
上述金刚石基欧姆接触结构的制备方法,包括如下步骤:
(1)选取金刚石衬底,利用混合酸液水浴加热对金刚石衬底进行清洗,去除金刚石表面非金刚石相;
(2)将清洗后的金刚石衬底放置到等离子体气氛中进行氢化处理;
(3)对氢化后的金刚石衬底进行清洗;
(4)在金刚石衬底表面旋涂一层光刻胶,使用光刻技术形成所需设计图形;
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造