[实用新型]测试治具

权利要求书

1.一种测试治具，用以对封装件进行电性测试，其特征在于，该测试治具包括：

测试座，包括用以容置所述封装件的插槽以及设置于所述插槽内的测试接点；

定位台，可移动地设置于所述测试座上方，并包括用以固定所述封装件的定位槽以及吸嘴，其中所述定位槽包括设置所述吸嘴的底面以及经配置以与所述封装件接触的导引面，且所述导引面与所述底面之间的夹角大于90度；以及

基座，设置于所述测试座上并包括暴露所述测试座的开口，所述定位台经配置以朝所述基座移动，以使固定于所述定位槽的所述封装件容置于所述插槽内并与所述测试接点电连接。

2.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述封装件包括本体以及由所述本体往外延伸的引脚，且所述引脚承靠于所述定位台的顶表面上并经配置以与所述测试接点电连接。

3.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述本体的侧边接触所述导引面。

4.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述定位槽包括第一凹槽部以及连接所述第一凹槽部的第二凹槽部，且所述第一凹槽部包括所述底面以及所述导引面。

5.根据权利要求4所述的测试治具，其特征在于，所述第一凹槽部的最大外径小于或等于所述第二凹槽部的最小外径。

6.根据权利要求4所述的测试治具，其特征在于，所述封装件包括引脚，其具有往上转折的转折部，且所述转折部位于所述第二凹槽部内。

7.根据权利要求4所述的测试治具，其特征在于，所述封装件包括引脚，其具有往上转折的转折部，且所述转折部位于所述第一凹槽部内。

8.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述导引面为平直斜面。

9.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述导引面为曲面并朝所述定位槽的中心弯曲。

10.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述开口用以容置至少部分的所述定位台。