[实用新型]存储设备及其设备掉电测试系统有效
申请号: | 202021240338.1 | 申请日: | 2020-06-30 |
公开(公告)号: | CN212782727U | 公开(公告)日: | 2021-03-23 |
发明(设计)人: | 李义;樊雨飞;任玉峰;蔡述楠 | 申请(专利权)人: | 北京忆恒创源科技有限公司 |
主分类号: | G11C29/00 | 分类号: | G11C29/00;G06F11/36 |
代理公司: | 北京卓特专利代理事务所(普通合伙) 11572 | 代理人: | 陈变花 |
地址: | 100192 北京市海淀区西小口*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 存储 设备 及其 掉电 测试 系统 | ||
1.一种存储设备,其特征在于,包括,第一充电接口和第二充电接口;
第一充电接口耦合到存储设备的接口,通过第一充电接口为备用电源充电;
第二充电接口耦合外部电源,外部电源通过第二充电接口为备用电源提供电力或充电,以及备用电源为存储设备供电。
2.如权利要求1所述的存储设备,其特征在于,存储设备仅通过第一充电接口识别对存储设备的供电是否异常;响应于对存储设备的供电异常,备用电源为存储设备供电。
3.如权利要求1或2所述的存储设备,其特征在于,第二充电接口同第一充电接口电隔离。
4.一种电子设备掉电测试系统,其特征在于,包括测试主机、测试控制机、电源以及被测试设备;被测试设备是根据权利要求1-3之一的存储设备;
测试主机用于向被测试设备施加测试用例;
电源通过第一开关耦合被测试设备,用于向被测试设备供电,第一开关导通或断开电源对被测试设备的供电;
测试控制机耦合到第一开关,并控制第一开关的导通或断开。
5.如权利要求4所述的电子设备掉电测试系统,其特征在于,测试控制机耦合被测试设备,以从被测试设备获取日志和/或状态信息。
6.如权利要求4或5所述的电子设备掉电测试系统,其特征在于,测试主机通过第二开关耦合被测试设备,第二开关导通或断开测试主机提供给被测试设备的供电和/或测试用例;测试控制机耦合到第二开关,并控制二开关的导通或断开。
7.如权利要求4所述的电子设备掉电测试系统,其特征在于,测试主机与测试控制机均为运行在第一主机中的虚拟机;
第一主机包括第一接口与第二接口;
测试主机同第一接口绑定并通过第一接口耦合被测试设备;
测试控制机同第二接口绑定并通过第二接口耦合被测试设备。
8.如权利要求7所述的电子设备掉电测试系统,其特征在于,还包括第二测试控制机;
第二测试控制机为运行在第一主机中的虚拟机;第一主机包括第三接口;
第二测试控制机同第三接口绑定并通过第二接口耦合被测试设备;
第二测试控制机不使用第二接口,以及测试控制机不使用第三接口。
9.一种电子设备掉电测试系统,其特征在于,包括第一开关、第二开关、测试控制机、电源以及被测试设备;被测试设备是根据权利要求1-3之一的存储设备;
测试控制机耦合到第一开关与第二开关,并控制第一开关与第二开关各自的导通或断开;
第一开关用于将电源耦合到被测试设备,电源用于向被测试设备供电,第一开关导通或断开电源对被测试设备的供电;
第二开关用于将被测试设备耦合到测试主机;第二开关导通或断开测试主机对被测试设备的供电。
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