[实用新型]存储设备及其设备掉电测试系统

说明书

本申请公开了存储设备及其设备掉电测试系统，所公开的存储设备，包括第一充电接口和第二充电接口；第一充电接口耦合到存储设备的接口，通过第一充电接口为备用电源充电；第二充电接口耦合外部电源，外部电源通过第二充电接口为备用电源提供电力或充电，以及备用电源为存储设备供电。

技术领域

本申请涉及测试技术，尤其涉及测试存储设备掉电时响应是否符合设计目标的测试装置、测试系统。

背景技术

图1展示了存储设备的框图。存储设备102同主机相耦合，用于为主机提供存储能力。主机同存储设备102之间可通过多种方式相耦合，耦合方式包括但不限于通过例如SATA(Serial Advanced Technology Attachment，串行高级技术附件)、SCSI(SmallComputer System Interface，小型计算机系统接口)、SAS(Serial Attached SCSI，串行连接SCSI)、IDE(Integrated Drive Electronics，集成驱动器电子)、USB(Universal SerialBus，通用串行总线)、PCIE(Peripheral Component Interconnect Express, 高速外围组件互联)、NVMe(NVM Express，高速非易失存储)、以太网、光纤通道、无线通信网络等连接主机与存储设备102。主机可以是能够通过上述方式同存储设备相通信的信息处理设备，例如，个人计算机、平板电脑、服务器、便携式计算机、网络交换机、路由器、蜂窝电话、个人数字助理等。存储设备102包括接口103、控制部件104、一个或多个NVM芯片105、DRAM(DynamicRandom Access Memory，动态随机访问存储器)110与备用电源150。

NAND闪存、相变存储器、FeRAM(Ferroelectric RAM，铁电存储器)、MRAM(MagneticRandom Access Memory，磁阻存储器)、RRAM(Resistive Random Access Memory，阻变存储器)、XPoint存储器等是常见的NVM。

接口103可适配于通过例如SATA、IDE、USB、PCIE、NVMe、SAS、以太网、光纤通道等方式与主机交换数据。

控制部件104用于控制在接口103、NVM芯片105以及DRAM 110之间的数据传输，还用于存储管理、主机逻辑地址到闪存物理地址映射、擦除均衡、坏块管理等。控制部件104可通过软件、硬件、固件或其组合的多种方式实现，例如，控制部件104可以是FPGA(Field-programmable gate array，现场可编程门阵列)、ASIC(Application SpecificIntegrated Circuit，应用专用集成电路)或者其组合的形式。控制部件104 也可以包括处理器或者控制器，在处理器或控制器中执行软件来操纵控制部件104的硬件来处理IO(Input/Output)命令。控制部件104还可以耦合到DRAM 110，并可访问 DRAM 110的数据。在DRAM可存储FTL表和/或缓存的IO命令的数据。

控制部件104包括闪存接口控制器(或称为介质接口控制器、闪存通道控制器)，闪存接口控制器耦合到NVM芯片105，并以遵循NVM芯片105的接口协议的方式向NVM 芯片105发出命令，以操作NVM芯片105，并接收从NVM芯片105输出的命令执行结果。已知的NVM芯片接口协议包括“Toggle”、“ONFI”等。

主机通过接口103向存储设备102提供电力使存储设备102工作。备用电源150在主机给存储设备102的电力中断或故障时，为存储设备102提供应急的供电。以使存储设备102得以继续正在被执行而未完成的IO命令，还利用备用电源提供的电力记录存储设备的工作状态，以在后续通过接口103恢复供电后，存储设备得以继续正常工作。

备用电源150是可充电的，例如充电电池或电容。备用电源150包括充电接口。充电接口耦合到接口103。通过接口103给存储设备供电时，还通过充电接口为备用电源 150充电。