[实用新型]一种压力传感器芯片测试系统

说明书

本实用新型公开了一种压力传感器芯片测试系统，包括数据处理单元模块、可编程电源模块、分选机通讯模块、小信号放大测量模块、DAC运算放大单元模块和测试板，所述可编程电源模块与测试板电性连接，所述分选机通讯模块的信号输入端与测试板的信号输出端连接，所述测试板的信号输出端依次连接有小信号放大测量模块和DAC运算放大单元模块，并与数据处理单元模块的信号输入端电连接。本实用新型中，简化了通讯模式和数字通讯接口，通过测试系统内部自动处理大量的测试数据，极大程度缩短产品测试时间，提高产品生产效率，不需要测试板与PC电脑进行频繁通讯，数据处理单元模块处理所有的中间过程，最终传输给PC电脑实现数据保存和可视化操作。

技术领域

本实用新型涉及测试装置领域，具体为一种压力传感器芯片测试系统。

背景技术

自动测试设备(ATE)的种类主要按照产品大类来区分，如功率器件测试机、数字芯片测试机、模拟芯片测试机、数模混合芯片测试机等，而生产中运用最广泛的是模拟芯片测试机。目前芯片测试方案通常实现方案是采购自动测试设备，在自动测试设备的平台下开发对应产品的测试方案。

压力传感器芯片对供电电源的稳定性、微弱信号的测量精度要求很高，共模电压高，差模信号又比较小，需要有特殊的信号处理单元进行电信号转换。

现有的自动测试设备的测量量程大，对于mV以下的信号测量误差远大于压力传感器本身输出的小信号，无法完成测试要求；与测试芯片进行数据通讯时需要单独增加数字接口板，测试机端控制信号复杂；设备与硬件之间通讯数据传输时间较长，对于有大量测试数据交互的芯片而言，测试时间很长，生产效率低，测试成本上升。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种压力传感器芯片测试系统，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种压力传感器芯片测试系统，包括数据处理单元模块、可编程电源模块、分选机通讯模块、小信号放大测量模块、DAC运算放大单元模块和测试板，所述可编程电源模块与测试板电性连接，所述分选机通讯模块的信号输入端与测试板的信号输出端连接，所述测试板的信号输出端依次连接有小信号放大测量模块和DAC运算放大单元模块，并与数据处理单元模块的信号输入端电连接，所述可编程电源模块的信号输入端与和数据处理单元模块的信号输出端电连接。

进一步的，所述数据处理单元模块为单片机。

进一步的，所述分选机通讯模块的信号输出端与外部的分选装置电连接。

进一步的，所述测试板为多层结构的PCB板。

进一步的，所述小信号放大测量模块能够处理的共模信号为0V-80V。

进一步的，所述数据处理单元模块通过传输电缆与外部的分选装置电连接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

本实用新型中，简化了通讯模式和数字通讯接口，通过测试系统内部自动处理大量的测试数据，极大程度缩短产品测试时间，提高产品生产效率。

不需要测试板与PC电脑进行频繁通讯，数据处理单元模块处理所有的中间过程，最终传输给PC电脑实现数据保存和可视化操作。

可编程电源模块用于提供被测芯片所需的稳定可编程电源，以满足测试不同芯片的供电要求。

小信号放大测量模块能够稳定的将0V-80V共模信号上的mV甚至uV信号不失真的放大，以保证压力传感器的测试要求。

附图说明

图1为一种压力传感器芯片测试系统的结构示意图；

图2为一种压力传感器芯片测试系统中数据处理单元模块的原理图；