[实用新型]一种具有水平校准的半导体有效
申请号: | 202021371104.0 | 申请日: | 2020-07-13 |
公开(公告)号: | CN212625529U | 公开(公告)日: | 2021-02-26 |
发明(设计)人: | 李俊毅;陈舜钦;姚恒裕 | 申请(专利权)人: | 福建安芯半导体科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/68 | 分类号: | H01L21/68;H01L21/683 |
代理公司: | 泉州市兴博知识产权代理事务所(普通合伙) 35238 | 代理人: | 易敏 |
地址: | 362300 福建*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 具有 水平 校准 半导体 | ||
本实用新型公开了一种具有水平校准的半导体,其结构包括半导体主体、水平调节装置、半导体格和切割槽,本实用新型具有以下有益效果,通过在半导体中部设有可手动旋转调节的水平调节装置,使半导体在放置过程中出现水平微差影响加工使用时,用户可以通过旋转水平装置装置的校准控制板,使半圆环状的水平校准顶板会逐步顶出进行支撑的水平调节,使半导体能够进行自身的水平调节,便于使用,通过在平衡装配头和半导体主体接触面设有单向的单向卡板,且卡板连接装配有可通过解锁顶压杆顶压解锁的顶压连板,水平调节装置能够进行便捷快速的拆卸,避免半导体在加工后水平调节装置随边料等成废弃装置,便于使用。
技术领域
本实用新型属于半导体技术领域,特别涉及一种具有水平校准的半导体。
背景技术
半导体,指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料,半导体在收音机、电视机以及测温上有着广泛的应用,如二极管就是采用半导体制作的器件,半导体是指一种导电性可受控制,范围可从绝缘体至导体之间的材料,常见的半导体材料有硅、锗、砷化镓等,而硅更是各种半导体材料中,最常使用的一种,随着科学技术的飞速发展,也得到了技术改进,但是现有技术新型在使用时,在半导体在进行加工使用时,因为加工放置台的水平微差或半导体底座的水平微差,容易导致半导体放置的不水平,而由于半导体本身不能用于水平校准,从而导致精细加工时的不便,而半导体在进行切割加工后,边料等均会成为废弃料,从而使半导体本身不便于进行水平校准的装载,造成不便。
实用新型内容
(一)要解决的技术问题
为了克服现有技术不足,现提出一种具有水平校准的半导体,以解决现有技术新型在使用时,在半导体在进行加工使用时,因为加工放置台的水平微差或半导体底座的水平微差,容易导致半导体放置的不水平,而由于半导体本身不能用于水平校准,从而导致精细加工时的不便,而半导体在进行切割加工后,边料等均会成为废弃料,从而使半导体本身不便于进行水平校准的装载,造成不便的效果。
(二)技术方案
本实用新型通过如下技术方案实现:本实用新型提出了一种具有水平校准的半导体,包括半导体主体、水平调节装置、半导体格和切割槽,半导体主体中部贯穿扣接有水平调节装置,半导体格均匀设于半导体主体上,半导体格之间设有切割槽;
水平调节装置包括单向卡板、顶压连板、平衡装配头、解锁顶压杆、倾斜顶压杆、校准控制板、控制槽、吸盘、水平校准顶板、解锁顶压槽和限位边条,平衡装配头内侧上方扣接有校准控制板,校准控制板顶端中部设有控制槽,校准控制板底端左侧与倾斜顶压杆顶端固定连接,水平校准顶板前后两端上方均固定连接有限位边条,水平校准顶板设于平衡装配头内部下方,水平校准顶板顶端左侧与倾斜顶压杆底端相接,顶压连板镶嵌设于平衡装配头内部下方,顶压连板位于水平校准顶板与平衡装配头外侧之间,顶压连板鱼单向卡板一端固定连接,单向卡板另一端贯穿平衡装配头与半导体主体扣接,顶压连板上设有解锁顶压槽,解锁顶压杆贯穿平衡装配头顶端与解锁顶压槽相接,吸盘设于平衡装配头底端中部,吸盘与平衡装配头固定连接。
进一步的,所述平衡装配头为凸字形圆柱体,便于装配头顺畅装配的同时便于装配限度的定位。
进一步的,所述顶压连板设有4个,4个顶压连板成均匀设于平衡装配头内4侧,单向卡板、解锁顶压杆、解锁顶压槽对应顶压连板设有4个,以保证平衡装配头装配的稳定。
进一步的,所述单向卡板贯穿平衡装配头处为三角形斜面,单向卡板斜面朝向贯穿平衡装配头处上方,使装配头在进行装配时能够直接按压装配。
进一步的,所述水平校准顶板为半圆环弧形板,水平校准顶板顶端为从一端到另一端均匀递增的斜面,使用户能够通过旋转校准控制板来逐渐带动水平校准板的伸出。
进一步的,所述顶压槽右端为三角形槽,顶压槽右端的三角形槽斜面与单向卡板的斜面朝向一致,顶压槽的三角形槽长度比单向卡板的斜面长,使设备能够通过按压解锁顶压杆来进行平衡装配头的快速解锁。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造