[实用新型]一种缺陷定位装置和缺陷定位系统有效

专利信息
申请号: 202021372134.3 申请日: 2020-07-13
公开(公告)号: CN212459440U 公开(公告)日: 2021-02-02
发明(设计)人: 史进;李在桓 申请(专利权)人: 西安奕斯伟硅片技术有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 黄灿;顾春天
地址: 710065 陕西省西安市*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 缺陷 定位 装置 系统
【权利要求书】:

1.一种缺陷定位装置,其特征在于,包括:

夹具,用于固定待检测产品;

定位传感器,与所述夹具固定连接,所述定位传感器用于检测所述夹具的姿态信息;

控制开关,与所述定位传感器电连接,所述控制开关用于向所述定位传感器输出控制所述定位传感器记录检测到的姿态信息的控制信号。

2.如权利要求1所述的缺陷定位装置,其特征在于,所述定位传感器包括陀螺仪和加速度计中的一种或多种。

3.如权利要求1所述的缺陷定位装置,其特征在于,所述控制开关的数量为多个,多个所述控制开关分别用于输出不同缺陷对应的所述控制信号。

4.如权利要求1所述的缺陷定位装置,其特征在于,所述缺陷定位装置还包括复位开关,所述复位开关与所述定位传感器电连接,所述复位开关用于向所述定位传感器提供使数据初始化的信号。

5.一种缺陷定位系统,其特征在于,包括检测光源和权利要求1至4中任一项所述的缺陷定位装置。

6.如权利要求5所述的缺陷定位系统,其特征在于,还包括底座,所述底座上方形成检测区,所述检测光源固定于所述底座上,且朝向所述检测区设置。

7.如权利要求6所述的缺陷定位系统,其特征在于,所述检测光源为光照度不小于40万勒克斯的平行光源。

8.如权利要求6所述的缺陷定位系统,其特征在于,所述底座上设置有初始化位置标识,所述初始化位置标识用于标识所述缺陷定位装置的初始位置。

9.如权利要求8所述的缺陷定位系统,其特征在于,所述初始化位置标识包括与所述缺陷定位装置相匹配的容纳槽,所述容纳槽用于容纳所述缺陷定位装置以确定所述缺陷定位装置处于所述初始位置。

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