[实用新型]一种粒度粒形检测用图像法粒度仪

权利要求书

1.一种粒度粒形检测用图像法粒度仪，包括粒度仪外壳(1)，其特征在于：所述粒度仪外壳(1)的前端通过铰链活动安装有粒度仪密封门(27)，所述粒度仪密封门(27)的前端面固定安装有操作面板(25)，所述粒度仪外壳(1)的下端面固定安装有底座(24)，所述底座(24)的下端固定安装有四个安装座一(3)，所述安装座一(3)的下端固定安装有吸盘(12)，所述粒度仪外壳(1)的上端面固定安装有进料口(5)，所述进料口(5)的上方设置有保护罩(26)，所述进料口(5)的下端面固定安装有流速控制器(9)，所述粒度仪外壳(1)内部从左至右依次安装有安装座二(28)、镜片支架(13)、存料箱(7)、探测支架(17)和相机支架(4)，所述粒度仪外壳(1)的内部固定安装有两个镜片支架(13)，所述安装座二(28)的上端面固定安装有半导体激光器(11)，所述粒度仪外壳(1)内部第一个镜片支架(13)的上端面固定安装有扩束镜(14)，所述粒度仪外壳(1)内部第二个镜片支架(13)的上端面固定安装有傅里叶透镜(15)，所述存料箱(7)的下端面固定安装有滑块(23)，所述探测支架(17)的上端面固定安装有光电探测板(18)，所述光电探测板(18)的上方设置有照明灯(6)，所述探测支架(17)的内部固定安装有螺纹套筒(19)，所述螺纹套筒(19)的内部活动安装有丝杆(20)，所述丝杆(20)的下端固定安装有旋转螺母(16)，所述旋转螺母(16)位于底座(24)的下端，所述探测支架(17)的内部固定安装有导向杆(21)，所述导向杆(21)的下端固定安装在粒度仪外壳(1)上，所述相机支架(4)的上端面固定安装有工业相机(2)，所述半导体激光器(11)的上方设置有单片机(10)，所述单片机(10)与粒度仪外壳(1)固定连接，所述粒度仪外壳(1)的内部开设有滑槽(22)，所述存料箱(7)的上端面固定安装有玻璃罩(8)。

2.根据权利要求1所述的一种粒度粒形检测用图像法粒度仪，其特征在于：所述操作面板(25)与单片机(10)为电性连接，所述操作面板(25)与照明灯(6)为电性连接，所述单片机(10)与半导体激光器(11)为电性连接，所述单片机(10)与工业相机(2)为电性连接。

3.根据权利要求1所述的一种粒度粒形检测用图像法粒度仪，其特征在于：所述安装座一(3)分别对称分布在粒度仪外壳(1)的四角，所述滑槽(22)的宽度与滑块(23)的宽度相同，所述滑块(23)对称分布在存料箱(7)的下端面，所述存料箱(7)的上端呈漏斗状结构。

4.根据权利要求1所述的一种粒度粒形检测用图像法粒度仪，其特征在于：所述流速控制器(9)的下端位于玻璃罩(8)的内部，所述玻璃罩(8)位于傅里叶透镜(15)与光电探测板(18)之间，所述光电探测板(18)位于玻璃罩(8)的右侧，所述傅里叶透镜(15)位于玻璃罩(8)的左侧。

5.根据权利要求1所述的一种粒度粒形检测用图像法粒度仪，其特征在于：所述半导体激光器(11)、扩束镜(14)、傅里叶透镜(15)、光电探测板(18)和工业相机(2)位于同一水平线上，所述工业相机(2)位于光电探测板(18)的右侧，所述半导体激光器(11)位于扩束镜(14)的左侧。

6.根据权利要求1所述的一种粒度粒形检测用图像法粒度仪，其特征在于：所述扩束镜(14)位于傅里叶透镜(15)的左侧，所述单片机(10)位于半导体激光器(11)与扩束镜(14)的上方，所述流速控制器(9)位于粒度仪外壳(1)的内部。