[实用新型]一种粒度粒形检测用图像法粒度仪

说明书

本实用新型公开了一种粒度粒形检测用图像法粒度仪，包括粒度仪外壳，所述粒度仪外壳的前端通过铰链活动安装有粒度仪密封门，所述粒度仪密封门的前端面固定安装有操作面板，所述粒度仪外壳的下端面固定安装有底座，所述底座的下端固定安装有四个安装座一。该粒度粒形检测用图像法粒度仪，在工作人员使用图像法粒度仪的过程中，通过设置半导体激光器和工业相机与单片机为电性连接，且操作面板与单片机为电性连接，便于直接从操作面板上对半导体激光器和工业相机进行控制，装置整体操作简单，通过设置进料口的上方放置有保护罩，大大减少了异物掉落至进料口内部的可能，增加了装置的测量精度，大大提成了装置的实用性，结构紧凑，便于使用。

技术领域

本实用新型涉及图像法粒度仪技术领域，具体为一种粒度粒形检测用图像法粒度仪。

背景技术

粒度仪可分为纳米粒度仪，激光粒度仪，单颗粒光阻法粒度仪和图像粒度仪等，粒度仪是用物理的方法测试固体颗粒的大小和分布的一种仪器，根据测试原理的不同分为沉降式粒度仪、沉降天平、激光粒度仪、光学颗粒计数器、电阻式颗粒计数器、颗粒图像分析仪等。

但是现有的粒度仪在使用的过程中，内部没有设置有玻璃罩，在测试较大颗粒时，易产生较大的灰尘大大降低了粒度仪测试数据的精度，且现有的粒度仪在不使用的时候，其顶部没有设置保护罩，易导致灰尘和异物掉落至进料口中，不便于使用。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种粒度粒形检测用图像法粒度仪，以解决上述背景技术中提出现有的粒度仪在使用的过程中，内部没有设置有玻璃罩，在测试较大颗粒时，易产生较大的灰尘大大降低了粒度仪测试数据的精度，且现有的粒度仪在不使用的时候，其顶部没有设置保护罩，易导致灰尘和异物掉落至进料口中，不便于使用的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种粒度粒形检测用图像法粒度仪，包括粒度仪外壳，所述粒度仪外壳的前端通过铰链活动安装有粒度仪密封门，所述粒度仪密封门的前端面固定安装有操作面板，所述粒度仪外壳的下端面固定安装有底座，所述底座的下端固定安装有四个安装座一，所述安装座一的下端固定安装有吸盘，所述粒度仪外壳的上端面固定安装有进料口，所述进料口的上方设置有保护罩，所述进料口的下端面固定安装有流速控制器，所述粒度仪外壳内部从左至右依次安装有安装座二、镜片支架、存料箱、探测支架和相机支架，所述粒度仪外壳的内部固定安装有两个镜片支架，所述安装座二的上端面固定安装有半导体激光器，所述粒度仪外壳内部第一个镜片支架的上端面固定安装有扩束镜，所述粒度仪外壳内部第二个镜片支架的上端面固定安装有傅里叶透镜，所述存料箱的下端面固定安装有滑块，所述探测支架的上端面固定安装有光电探测板，所述光电探测板的上方设置有照明灯，所述探测支架的内部固定安装有螺纹套筒，所述螺纹套筒的内部活动安装有丝杆，所述丝杆的下端固定安装有旋转螺母，所述旋转螺母位于底座的下端，所述探测支架的内部固定安装有导向杆，所述导向杆的下端固定安装在粒度仪外壳上，所述相机支架的上端面固定安装有工业相机，所述半导体激光器的上方设置有单片机，所述单片机与粒度仪外壳固定连接，所述粒度仪外壳的内部开设有滑槽，所述存料箱的上端面固定安装有玻璃罩。

优选的，所述操作面板与单片机为电性连接，所述操作面板与照明灯为电性连接，所述单片机与半导体激光器为电性连接，所述单片机与工业相机为电性连接。

优选的，所述安装座一分别对称分布在粒度仪外壳的四角，所述滑槽的宽度与滑块的宽度相同，所述滑块对称分布在存料箱的下端面，所述存料箱的上端呈漏斗状结构。

优选的，所述流速控制器的下端位于玻璃罩的内部，所述玻璃罩位于傅里叶透镜与光电探测板之间，所述光电探测板位于玻璃罩的右侧，所述傅里叶透镜位于玻璃罩的左侧。

优选的，所述半导体激光器、扩束镜、傅里叶透镜、光电探测板和工业相机位于同一水平线上，所述工业相机位于光电探测板的右侧，所述半导体激光器位于扩束镜的左侧。