[实用新型]光模块低温测试装置

权利要求书

1.一种光模块低温测试装置，其特征在于，包括：

冷却底座结构，所述冷却底座结构用于冷却光模块；以及，

测试盒结构，设于所述冷却底座结构上，所述测试盒结构用于在低温环境下测试光模块；

其中，所述冷却底座结构的顶部开敞设置以形成容纳槽，所述容纳槽内填充设有冷却介质，所述测试盒结构设于所述冷却底座结构的顶部、并罩设于所述容纳槽上。

2.如权利要求1所述的光模块低温测试装置，其特征在于，所述测试盒结构包括可拆卸地安装于所述冷却底座结构上的测试板结构，以及可拆卸地安装于所述测试板结构上的测试盖体结构。

3.如权利要求2所述的光模块低温测试装置，其特征在于，所述测试板结构包括可拆卸地安装于所述冷却底座结构上的测试安装板，以及突出于所述测试安装板的板面的顶部设置的安装卡环，所述安装卡环位于所述测试盖体结构和所述测试安装板之间，所述安装卡环用于安装光模块。

4.如权利要求3所述的光模块低温测试装置，其特征在于，所述测试板结构还包括凸出于所述测试安装板的板面的顶部设置的支撑凸块，所述安装卡环和所述支撑凸块均位于所述测试盖体结构和所述测试安装板之间，且所述安装卡环的高度值小于或等于所述支撑凸块的高度值。

5.如权利要求4所述的光模块低温测试装置，其特征在于，一个所述安装卡环设于所述测试安装板的中心位置处，至少一个所述支撑凸块设于所述测试安装板的边角位置处。

6.如权利要求3所述的光模块低温测试装置，其特征在于，所述测试盖体结构包括测试顶盖，设于所述测试顶盖的底部的周侧、并设于所述测试安装板上的多个支脚结构，以及设于所述测试顶盖的底部的测试围挡结构，所述测试围挡结构围设于所述安装卡环的周侧。

7.如权利要求6所述的光模块低温测试装置，其特征在于，所述测试盖体结构包括设于所述测试围挡结构的端部的密封条，所述密封条与所述测试安装板紧密接触。

8.如权利要求7所述的光模块低温测试装置，其特征在于，所述测试围挡结构的端部凹设有密封槽，所述密封条安设于所述密封槽中。

9.如权利要求6所述的光模块低温测试装置，其特征在于，所述测试顶盖与所述测试安装板之间形成有冷却腔，所述冷却腔围设于所述测试围挡结构的周侧；

所述测试顶盖的顶部开设有冷气进口，所述冷气进口与所述冷却腔连通。

10.如权利要求1至9中任意一项所述的光模块低温测试装置，其特征在于，所述冷却底座结构与所述测试盒结构螺栓连接。