[实用新型]光模块低温测试装置

说明书

本实用新型公开一种光模块低温测试装置，包括：冷却底座结构和测试盒结构，所述冷却底座结构用于冷却光模块，所述测试盒结构设于所述冷却底座结构上，所述测试盒结构用于在低温环境下测试光模块，所述冷却底座结构的顶部开敞设置以形成容纳槽，所述容纳槽内填充设有冷却介质，所述测试盒结构设于所述冷却底座结构的顶部、并罩设于所述容纳槽上。本实用新型提供的所述光模块低温测试装置，旨在解决现有技术中，由于测试盒结构上存在缺陷，导致出现测试降温时间长且测试环境差的问题。

技术领域

本实用新型涉及光模块测试技术领域，特别涉及一种光模块低温测试装置。

背景技术

在光纤通信技术领域中，光模块将越来越多的被应用于恶劣环境下，为确保光模块的性能，产品出厂前必须对光模块在恶劣环境中的可靠性及稳定性进行测试。由此，光模块出厂前必须经过高温、低温、常温等项目测试。在生产测试项目中，由于低温测试环境(一般温度要求-37.5℃)恶劣，由于测试盒结构上存在缺陷，出现测试降温时间长且测试环境差。

实用新型内容

本实用新型公开一种光模块低温测试装置，旨在解决现有技术中，由于测试盒结构上存在缺陷，导致出现测试降温时间长且测试环境差的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供一种光模块低温测试装置，包括：

冷却底座结构，所述冷却底座结构用于冷却光模块；以及，

测试盒结构，设于所述冷却底座结构上，所述测试盒结构用于在低温环境下测试光模块；

其中，所述冷却底座结构的顶部开敞设置以形成容纳槽，所述容纳槽内填充设有冷却介质，所述测试盒结构设于所述冷却底座结构的顶部、并罩设于所述容纳槽上。

可选地，所述测试盒结构包括可拆卸地安装于所述冷却底座结构上的测试板结构，以及可拆卸地安装于所述测试板结构上的测试盖体结构。

可选地，所述测试板结构包括可拆卸地安装于所述冷却底座结构上的测试安装板，以及突出于所述测试安装板的板面的顶部设置的安装卡环，所述安装卡环位于所述测试盖体结构和所述测试安装板之间，所述安装卡环用于安装光模块。

可选地，所述测试板结构还包括凸出于所述测试安装板的板面的顶部设置的支撑凸块，所述安装卡环和所述支撑凸块均位于所述测试盖体结构和所述测试安装板之间，且所述安装卡环的高度值小于或等于所述支撑凸块的高度值。

可选地，一个所述安装卡环设于所述测试安装板的中心位置处，至少一个所述支撑凸块设于所述测试安装板的边角位置处。

可选地，所述测试盖体结构包括测试顶盖，设于所述测试顶盖的底部的周侧、并设于所述测试安装板上的多个支脚结构，以及设于所述测试顶盖的底部的测试围挡结构，所述测试围挡结构围设于所述安装卡环的周侧。

可选地，所述测试盖体结构包括设于所述测试围挡结构的端部的密封条，所述密封条与所述测试安装板紧密接触。

可选地，所述测试围挡结构的端部凹设有密封槽，所述密封条安设于所述密封槽中。

可选地，所述测试顶盖与所述测试安装板之间形成有冷却腔，所述冷却腔围设于所述测试围挡结构的周侧；

所述测试顶盖的顶部开设有冷气进口，所述冷气进口与所述冷却腔连通。

可选地，所述冷却底座结构与所述测试盒结构螺栓连接。