[实用新型]一种电子芯片设计试验检测装置

权利要求书

1.一种电子芯片设计试验检测装置，包括检测台（1），其特征在于：所述检测台（1）的上端外表面设置有支架杆（2）、放置装置（4）与辅助装置（5），所述支架杆（2）位于位于放置装置（4）的一侧，所述辅助装置（5）位于放置装置（4）的另一侧，所述支架杆（2）的上端外表面设置有电气检测电脑（3），所述检测台（1）的下端外表面设置有防滑脚垫（6），所述电气检测电脑（3）的前端外表面设置有LED显示屏（7）与控制面板（8），所述LED显示屏（7）位于控制面板（8）的一侧，所述电气检测电脑（3）的一侧外表面设置有检测探针（9）。

2.根据权利要求1所述的一种电子芯片设计试验检测装置，其特征在于：所述放置装置（4）包括支撑柱（401）、旋转轴（402）、旋转放置台（403）与芯片放置槽（404），所述旋转轴（402）位于支撑柱（401）的一端外表面，所述旋转放置台（403）位于支撑柱（401）的一端外表面，所述芯片放置槽（404）位于旋转放置台（403）的一端外表面。

3.根据权利要求2所述的一种电子芯片设计试验检测装置，其特征在于：所述支撑柱（401）与旋转轴（402）之间设置有滑槽，所述支撑柱（401）的一端外表面通过滑槽与旋转轴（402）的另一端外表面活动连接，所述旋转轴（402）与旋转放置台（403）之间设置有固定槽，所述旋转轴（402）的一端外表面通过固定槽与旋转放置台（403）的另一端外表面可拆卸连接，所述旋转放置台（403）与芯片放置槽（404）通过机械开设而成，所述芯片放置槽（404）的数量为四组，且芯片放置槽（404）的尺寸不同。

4.根据权利要求1所述的一种电子芯片设计试验检测装置，其特征在于：所述辅助装置（5）包括固定底座（501）、一号折叠杆（502）、二号折叠杆（503）、放大镜（504）、照明灯（505）与控制开关（506），所述一号折叠杆（502）和二号折叠杆（503）均位于固定底座（501）的一端外表面，所述一号折叠杆（502）位于二号折叠杆（503）的一侧，所述放大镜（504）位于二号折叠杆（503）的一端外表面，所述照明灯（505）位于一号折叠杆（502）的一端外表面，所述控制开关（506）位于照明灯（505）的外壁。

5.根据权利要求4所述的一种电子芯片设计试验检测装置，其特征在于：所述固定底座（501）均与一号折叠杆（502）和二号折叠杆（503）之间设置有卡扣，所述固定底座（501）的一端外表面均通过卡扣与一号折叠杆（502）和二号折叠杆（503）的另一端外表面可拆卸连接，所述一号折叠杆（502）与照明灯（505）之间设置有一号固定螺纹，所述一号折叠杆（502）的一端外表面通过一号固定螺纹与照明灯（505）的一端外表面可拆卸连接，所述二号折叠杆（503）与放大镜（504）之间设置有二号固定螺纹，所述二号折叠杆（503）的一端外表面通过二号固定螺纹与放大镜（504）的外壁可拆卸连接，所述控制开关（506）与照明灯（505）之间设置有十字螺丝，所述控制开关（506）的一端外表面通过十字螺丝与照明灯（505）的外壁可拆卸连接，所述控制开关（506）的输入端与照明灯（505）的输出端电性连接。

6.根据权利要求1所述的一种电子芯片设计试验检测装置，其特征在于：所述检测台（1）与防滑脚垫（6）之间设置有热压胶，所述检测台（1）的下端外表面通过热压胶与防滑脚垫（6）的一端外表面固定连接，所述防滑脚垫（6）的材质为橡胶。