[实用新型]一种电子芯片设计试验检测装置

说明书

本实用新型公开了一种电子芯片设计试验检测装置，涉及电子芯片检测领域，包括检测台，所述检测台的上端外表面设置有支架杆、放置装置与辅助装置，所述支架杆位于位于放置装置的一侧，所述辅助装置位于放置装置的另一侧。本实用新型所述的一种电子芯片设计试验检测装置，通过放置装置的设置，放置装置在使用时有益于对检测的电子芯片进行放置，在使用时有益于放置多组和不同尺寸的电子芯片，在使用时检测较为方便，通过辅助装置的设置，辅助装置在使用时有益于对电子芯片进行检测，在使用时可便于检查电子芯片的故障，在使用时较为方便，有益于提高工作时的效率，使用的效果相对于传统方式更好。

技术领域

本实用新型涉及电子芯片检测领域，具体涉及一种电子芯片设计试验检测装置。

背景技术

电子芯片又称集成电路，或称微电路、微芯片、晶片/芯片在电子学中是一种把电路（主要包括半导体设备，也包括被动组件等）小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上，在电子芯片的生产设计过程中，为了保证电子芯片的生产质量通常会对电子芯片进行检测，但现有的检测装置存在一定的不便，首先现有的检测装置不便于根据不同尺寸的电子芯片进行调整固定，其次现有的检测装置在使用时不便于对故障的电子芯片进行检修，为此，我们提出一种电子芯片设计试验检测装置。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种电子芯片设计试验检测装置，可以有效解决背景技术中的问题。

为实现上述目的，本实用新型采取的技术方案为：一种电子芯片设计试验检测装置，包括检测台，所述检测台的上端外表面设置有支架杆、放置装置与辅助装置，所述支架杆位于位于放置装置的一侧，所述辅助装置位于放置装置的另一侧，所述支架杆的上端外表面设置有电气检测电脑，所述检测台的下端外表面设置有防滑脚垫，所述电气检测电脑的前端外表面设置有LED显示屏与控制面板，所述LED显示屏位于控制面板的一侧，所述电气检测电脑的一侧外表面设置有检测探针。

优选的，所述放置装置包括支撑柱、旋转轴、旋转放置台与芯片放置槽，所述旋转轴位于支撑柱的一端外表面，所述旋转放置台位于支撑柱的一端外表面，所述芯片放置槽位于旋转放置台的一端外表面。

优选的，所述支撑柱与旋转轴之间设置有滑槽，所述支撑柱的一端外表面通过滑槽与旋转轴的另一端外表面活动连接，所述旋转轴与旋转放置台之间设置有固定槽，所述旋转轴的一端外表面通过固定槽与旋转放置台的另一端外表面可拆卸连接，所述旋转放置台与芯片放置槽通过机械开设而成，所述芯片放置槽的数量为四组，且芯片放置槽的尺寸不同。

优选的，所述辅助装置包括固定底座、一号折叠杆、二号折叠杆、放大镜、照明灯与控制开关，所述一号折叠杆和二号折叠杆均位于固定底座的一端外表面，所述一号折叠杆位于二号折叠杆的一侧，所述放大镜位于二号折叠杆的一端外表面，所述照明灯位于一号折叠杆的一端外表面，所述控制开关位于照明灯的外壁。

优选的，所述固定底座均与一号折叠杆和二号折叠杆之间设置有卡扣，所述固定底座的一端外表面均通过卡扣与一号折叠杆和二号折叠杆的另一端外表面可拆卸连接，所述一号折叠杆与照明灯之间设置有一号固定螺纹，所述一号折叠杆的一端外表面通过一号固定螺纹与照明灯的一端外表面可拆卸连接，所述二号折叠杆与放大镜之间设置有二号固定螺纹，所述二号折叠杆的一端外表面通过二号固定螺纹与放大镜的外壁可拆卸连接，所述控制开关与照明灯之间设置有十字螺丝，所述控制开关的一端外表面通过十字螺丝与照明灯的外壁可拆卸连接，所述控制开关的输入端与照明灯的输出端电性连接。

优选的，所述检测台与防滑脚垫之间设置有热压胶，所述检测台的下端外表面通过热压胶与防滑脚垫的一端外表面固定连接，所述防滑脚垫的材质为橡胶。