[实用新型]用于NAND Flash测试电路有效
申请号: | 202021478669.9 | 申请日: | 2020-07-22 |
公开(公告)号: | CN212365506U | 公开(公告)日: | 2021-01-15 |
发明(设计)人: | 李斌 | 申请(专利权)人: | 深圳市宏旺微电子有限公司 |
主分类号: | G11C29/12 | 分类号: | G11C29/12 |
代理公司: | 深圳市诺正鑫泽知识产权代理有限公司 44689 | 代理人: | 林国友 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 nand flash 测试 电路 | ||
1.一种用于NAND Flash测试电路,其特征在于,所述测试电路具有母板部和子板部,其中,所述母板部设于测试母板上,所述子板部设于测试子板上;
所述母板部包括电源电路、电压转换电路、单片机主控、数据传输电路和母板插针电路,所述电源电路与电压转换电路连接,所述电压转换电路分别与单片机主控和母板插针电路连接,所述单片机主控与数据传输电路连接,所述数据传输电路与外部PC端连接;
所述子板部包括子板插针电路和芯片座子电路,所述子板插针电路分别与母板插针电路和芯片座子电路连接。
2.根据权利要求1所述的用于NAND Flash测试电路,其特征在于,所述单片机主控包括主控芯片U5、第一晶振组Y1、第二晶振组Y2、复位开关SW1、电源开关SW2、功能预留开关、第一电源提示灯D3、第二电源提示灯D4和其它电容,其中所述功能预留开关和其它电容分别具有若干个;
所述第一晶振组Y1、第二晶振组Y2、复位开关SW1、电源开关SW2、功能预留开关、第一电源提示灯D3、第二电源提示灯D4和其它电容分别通过引脚与所述主控芯片U5连接。
3.根据权利要求1所述的用于NAND Flash测试电路,其特征在于,所述电压转换电路由第一伏数电路U3和第二伏数电路U6组合构成,所述第一伏数电路U3和第二伏数电路U6的接电端分别与所述电源电路连接,所述第一伏数电路U3和第二伏数电路U6的负载端分别与所述单片机主控和母板插针电路连接。
4.根据权利要求1所述的用于NAND Flash测试电路,其特征在于,所述测试电路在母板上还具有烧录监测电路,所述烧录监测电路分别与单片机主控和PC端连接,所述烧录监测电路包括烧录监测接口U1、烧录检测电容和若干电阻,所述烧录检测电容串接若干电阻与烧录监测接口U1连接,所述若干电阻并联。
5.根据权利要求1所述的用于NAND Flash测试电路,其特征在于,所述数据传输电路由数据转换芯片U4和若干数据传输电容组合构成,所述数据传输电容与数据转换芯片U4连接。
6.根据权利要求1所述的用于NAND Flash测试电路,其特征在于,所述母板插针电路由第一母板传输电路J5和第二母板传输电路J6组合构成,所述第一母板传输电路J5和第二母板传输电路J6的输出负载端均与子板插针电路连接,所述第一母板传输电路J5和第二母板传输电路J6的接入端均分别与电压转换电路和单片机主控连接。
7.根据权利要求1所述的用于NAND Flash测试电路,其特征在于,所述芯片座子电路的芯片座子U2用于放置闪存芯片,所述芯片座子U2外接若干测试电容、若干测试电阻、一子板电源灯和若干测试口TP。
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