[实用新型]用于NAND Flash测试电路

说明书

本申请提供了一种用于NAND Flash测试电路，运用于闪存测试技术领域，其测试电路具有母板部和子板部，其中，母板部设于测试母板上，子板部设于测试子板上；母板部包括电源电路、电压转换电路、单片机主控、数据传输电路和母板插针电路，电源电路与电压转换电路连接，电压转换电路分别与单片机主控和母板插针电路连接，单片机主控与数据传输电路连接，数据传输电路与外部PC端连接；子板部包括子板插针电路和芯片座子电路，子板插针电路分别与母板插针电路和芯片座子电路连接；子母板的两板设计简化了测试电路，电压转换电路丰富了测试平台的测试电压，解决了子板可更换而增加测试平台的使用寿命问题，节约了测试成本。

技术领域

本申请涉及闪存测试技术领域，特别涉及为一种用于NAND Flash测试电路。

背景技术

NAND Flash(以下简称闪存芯片)的应用广阔、可以运用在如移动存储、 5G、物联网、车联网以及人工智能等不同的技术领域，随着闪存芯片的制造工艺的不断更新，产量不断增加，其不良率也不断上升，闪存控制器厂商需要更换新的控制器来进行调试，同时终端厂商也需要投入新的测试仪器进行闪存芯片的筛选测试；

对于闪存芯片测试的平台分为母板与子板，用于装配闪存芯片的子板上的测试座子属于消耗品，常常需要更换，增大测试成本。

发明内容

本申请提供一种用于NAND Flash测试电路，采用电路设计减少测试座子的消耗，提升测试平台的使用寿命，节省测试成本。

本申请为解决技术问题采用如下技术手段：

本申请提出的用于NAND Flash测试电路，所述测试电路具有母板部和子板部，其中，所述母板部设于测试母板上，所述子板部设于测试子板上；

所述母板部包括电源电路、电压转换电路、单片机主控、数据传输电路和母板插针电路，所述电源电路与电压转换电路连接，所述电压转换电路分别与单片机主控和母板插针电路连接，所述单片机主控与数据传输电路连接，所述数据传输电路与外部PC端连接；

所述子板部包括子板插针电路和芯片座子电路，所述子板插针电路分别与母板插针电路和芯片座子电路连接。

进一步地，所述单片机主控包括主控芯片U5、第一晶振组Y1、第二晶振组Y2、复位开关SW1、电源开关SW2、功能预留开关、第一电源提示灯D3、第二电源提示灯D4和其它电容，其中所述功能预留开关和其它电容分别具有若干个；

所述第一晶振组Y1、第二晶振组Y2、复位开关SW1、电源开关SW2、功能预留开关、第一电源提示灯D3、第二电源提示灯D4和其它电容分别通过引脚与所述主控芯片U5连接。

进一步地，所述电压转换电路由第一伏数电路U3和第二伏数电路U6组合构成，所述第一伏数电路U3和第二伏数电路U6的接电端分别与所述电源电路连接，所述第一伏数电路U3和第二伏数电路U6的负载端分别与所述单片机主控和母板插针电路连接。

进一步地，所述测试电路在母板上还具有烧录监测电路，所述烧录监测电路分别与单片机主控和PC端连接，所述烧录监测电路包括烧录监测接口U1、烧录检测电容和若干电阻，所述烧录检测电容串接若干电阻与烧录监测接口U1 连接，所述若干电阻并联。

进一步地，所述数据传输电路由数据转换芯片U4和若干数据传输电容组合构成，所述数据传输电容与数据转换芯片U4连接。

进一步地，所述母板插针电路由第一母板传输电路J5和第二母板传输电路 J6组合构成，所述第一母板传输电路J5和第二母板传输电路J6的输出负载端均与子板插针电路连接，所述第一母板传输电路J5和第二母板传输电路J6的接入端均分别与电压转换电路和单片机主控连接。

进一步地，所述芯片座子电路的芯片座子U2用于放置闪存芯片，所述芯片座子U2外接若干测试电容、若干测试电阻、一子板电源灯和若干测试口TP。