[实用新型]一种半导体制冷片综合测试设备

权利要求书

1.一种半导体制冷片综合测试设备，其特征在于：包括综合测试设备本体(1)，所述综合测试设备本体(1)的底部固定连接有若干支撑柱(2)，所述支撑柱(2)的底部固定连接有第一支撑板(3)，所述综合测试设备本体(1)的下方设有矩形环(4)，所述矩形环(4)的顶部开设有若干通孔(5)，所述通孔(5)内设有第一活动柱(6)，所述第一活动柱(6)的底部固定连接有滚轮(8)，所述第一活动柱(6)的外部套设有位于矩形环(4)底部的限位环(7)，所述限位环(7)与第一活动柱(6)固定连接，所述第一活动柱(6)与综合测试设备本体(1)通过弹性组件连接，所述矩形环(4)与综合测试设备本体(1)通过驱动组件连接；

所述驱动组件包括设置于矩形环(4)内的气缸(11)，所述气缸(11)的底部固定连接有推板(12)，所述推板(12)的底部设有第一活动板(13)，所述第一活动板(13)与矩形环(4)通过若干连接柱(10)连接，所述气缸(11)的顶端与综合测试设备本体(1)通过固定组件连接。

2.根据权利要求1所述的一种半导体制冷片综合测试设备，其特征在于：所述固定组件包括对称设置于气缸(11)两侧的连接块(14)，所述连接块(14)与气缸(11)固定连接，所述综合测试设备本体(1)的底部开设有第一卡槽(15)，所述第一卡槽(15)内设有第一卡板(16)，所述第一卡板(16)的底部与气缸(11)的顶部固定连接，所述连接块(14)远离气缸(11)的一侧开设有第二卡槽(18)，所述连接块(14)远离气缸(11)的一侧设有第二支撑板(17)，所述第二支撑板(17)与综合测试设备本体(1)固定连接，所述第二支撑板(17)的一侧开设有与第二卡槽(18)相配合的矩形孔(19)，所述第二卡槽(18)内设有第二卡板(20)，所述第二卡板(20)的一端延伸至矩形孔(19)内，且所述第二卡板(20)远离气缸(11)的一侧设有活动组件。

3.根据权利要求2所述的一种半导体制冷片综合测试设备，其特征在于：所述活动组件包括设置于第二卡板(20)远离气缸(11)一侧的第二活动柱(23)，所述第二活动柱(23)与第二卡板(20)固定连接，所述第二支撑板(17)远离连接块(14)的一侧设有固定板(21)，所述固定板(21)与综合测试设备本体(1)固定连接，所述固定板(21)远离第二支撑板(17)的一侧设有第二活动板(22)，所述第二活动柱(23)的一端贯穿固定板(21)，且所述第二活动柱(23)的一端与第二活动板(22)固定连接，所述第二活动柱(23)的外部套设有位于第二活动板(22)与固定板(21)之间的第一弹簧(9)，所述第一弹簧(9)的两端分别与固定板(21)和第二活动板(22)固定连接。

4.根据权利要求3所述的一种半导体制冷片综合测试设备，其特征在于：所述第二活动板(22)的下方设有连接板(25)，所述连接板(25)的一侧与固定板(21)固定连接，所述连接板(25)的顶部固定连接有限位板(26)，所述第二活动板(22)远离固定板(21)的一侧固定连接有握把(27)。

5.根据权利要求4所述的一种半导体制冷片综合测试设备，其特征在于：所述限位板(26)位于第二活动板(22)远离固定板(21)的一侧。

6.根据权利要求1所述的一种半导体制冷片综合测试设备，其特征在于：所述弹性组件包括开设于第一活动柱(6)顶部的凹槽(28)，所述凹槽(28)内设有第三活动柱(29)，所述第三活动柱(29)的顶部与综合测试设备本体(1)固定连接，所述第三活动柱(29)的底部与凹槽(28)的底部内壁通过第二弹簧(24)连接。

7.根据权利要求1所述的一种半导体制冷片综合测试设备，其特征在于：所述第一支撑板(3)的底部水平位置低于滚轮(8)的底部水平位置。

8.根据权利要求1所述的一种半导体制冷片综合测试设备，其特征在于：所述第一支撑板(3)的底部固定连接有防滑垫。