[实用新型]一种半导体制冷片综合测试设备

说明书

本实用新型公开了一种半导体制冷片综合测试设备，具体涉及半导体制冷片技术领域，包括综合测试设备本体，所述综合测试设备本体的底部固定连接有若干支撑柱，所述支撑柱的底部固定连接有第一支撑板，所述综合测试设备本体的下方设有矩形环，所述矩形环的顶部开设有若干通孔，所述通孔内设有第一活动柱，所述第一活动柱的底部固定连接有滚轮，所述第一活动柱的外部套设有位于矩形环底部的限位环，所述限位环与第一活动柱固定连接。本实用新型可以使得滚轮相对综合测试设备本体下移，进而使得滚轮与地面相接触，从而便于对综合测试设备本体进行移动，同时便于对气缸进行拆装，方便后期更换检修。

技术领域

本实用新型涉及半导体制冷片技术领域，更具体地说，本实用新型涉及一种半导体制冷片综合测试设备。

背景技术

半导体制冷片，也叫热电制冷片，是一种热泵。它的优点是没有滑动部件，应用在一些空间受到限制，可靠性要求高，无制冷剂污染的场合。利用半导体材料的Peltier效应，当直流电通过两种不同半导体材料串联成的电偶时，在电偶的两端即可分别吸收热量和放出热量，可以实现制冷的目的。它是一种产生负热阻的制冷技术，其特点是无运动部件，可靠性也比较高。半导体制冷片一般需要在工作台上综合测试，由于半导体制冷片综合测试设备体积较大移动起来很不方便，给使用者的使用造成很大的不便。

实用新型内容

为了克服现有技术的上述缺陷，本实用新型的实施例提供一种半导体制冷片综合测试设备，通过设置综合测试设备本体、支撑柱、第一支撑板、矩形环、通孔、第一活动柱、限位环、滚轮、连接柱、气缸、推板、第一活动板、连接块、弹性组件和固定组件的配合作用，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种半导体制冷片综合测试设备，包括综合测试设备本体，所述综合测试设备本体的底部固定连接有若干支撑柱，所述支撑柱的底部固定连接有第一支撑板，所述综合测试设备本体的下方设有矩形环，所述矩形环的顶部开设有若干通孔，所述通孔内设有第一活动柱，所述第一活动柱的底部固定连接有滚轮，所述第一活动柱的外部套设有位于矩形环底部的限位环，所述限位环与第一活动柱固定连接，所述第一活动柱与综合测试设备本体通过弹性组件连接，所述矩形环与综合测试设备本体通过驱动组件连接；

所述驱动组件包括设置于矩形环内的气缸，所述气缸的底部固定连接有推板，所述推板的底部设有第一活动板，所述第一活动板与矩形环通过若干连接柱连接，所述气缸的顶端与综合测试设备本体通过固定组件连接。

在一个优选地实施方式中，所述固定组件包括对称设置于气缸两侧的连接块，所述连接块与气缸固定连接，所述综合测试设备本体的底部开设有第一卡槽，所述第一卡槽内设有第一卡板，所述第一卡板的底部与气缸的顶部固定连接，所述连接块远离气缸的一侧开设有第二卡槽，所述连接块远离气缸的一侧设有第二支撑板，所述第二支撑板与综合测试设备本体固定连接，所述第二支撑板的一侧开设有与第二卡槽相配合的矩形孔，所述第二卡槽内设有第二卡板，所述第二卡板的一端延伸至矩形孔内，且所述第二卡板远离气缸的一侧设有活动组件。

在一个优选地实施方式中，所述活动组件包括设置于第二卡板远离气缸一侧的第二活动柱，所述第二活动柱与第二卡板固定连接，所述第二支撑板远离连接块的一侧设有固定板，所述固定板与综合测试设备本体固定连接，所述固定板远离第二支撑板的一侧设有第二活动板，所述第二活动柱的一端贯穿固定板，且所述第二活动柱的一端与第二活动板固定连接，所述第二活动柱的外部套设有位于第二活动板与固定板之间的第一弹簧，所述第一弹簧的两端分别与固定板和第二活动板固定连接。

在一个优选地实施方式中，所述第二活动板的下方设有连接板，所述连接板的一侧与固定板固定连接，所述连接板的顶部固定连接有限位板，所述第二活动板远离固定板的一侧固定连接有握把。

在一个优选地实施方式中，所述限位板位于第二活动板远离固定板的一侧。