[实用新型]一种用于电子芯片加工的质量检测装置

权利要求书

1.一种用于电子芯片加工的质量检测装置，包括光学检测仪本体（1），所述光学检测仪本体（1）下表面设置有检测镜头（4），所述光学检测仪本体（1）后表面设置有立块，所述立块下端设置有底座（7），所述底座（7）下表面固定有支腿（5），其特征在于：所述光学检测仪本体（1）侧表面开设有导向槽（12），所述导向槽（12）内侧设置有连接滑块，所述连接滑块一侧壁固定有防护板（2），所述光学检测仪本体（1）前表面开设有连接滑槽（10），所述连接滑槽（10）内侧一端固定有弹簧（11），所述弹簧（11）一端表面固定有挡块（3），所述防护板（2）内侧开设有卡槽（13），所述挡块（3）与防护板（2）通过卡槽（13）进行配合连接，所述支腿（5）下表面设置有耐磨机构。

2.根据权利要求1所述的一种用于电子芯片加工的质量检测装置，其特征在于：所述耐磨机构包括耐磨铸铁（6）、定位柱（15）、第一铷磁铁（17）及凹槽（16），所述支腿（5）下表面开设有凹槽（16），所述凹槽（16）内表面顶端固定有第一铷磁铁（17），所述第一铷磁铁（17）下表面通过磁吸连接有第二铷磁铁，所述第二铷磁铁下表面固定有定位柱（15），所述定位柱（15）下端一体成型有耐磨铸铁（6）。

3.根据权利要求2所述的一种用于电子芯片加工的质量检测装置，其特征在于：所述耐磨铸铁（6）为板状结构，所述定位柱（15）沿耐磨铸铁（6）四周设置有四个。

4.根据权利要求2所述的一种用于电子芯片加工的质量检测装置，其特征在于：所述耐磨铸铁（6）厚度为三毫米到九毫米，所述耐磨铸铁（6）下表面设置有防滑纹。

5.根据权利要求1所述的一种用于电子芯片加工的质量检测装置，其特征在于：所述防护板（2）横截面为“凵”字型，所述卡槽（13）沿防护板（2）长度方向等距设置有多个。

6.根据权利要求1所述的一种用于电子芯片加工的质量检测装置，其特征在于：所述挡块（3）设置有两个，两个所述挡块（3）通过拉手块进行固定连接。