[实用新型]一种用于电子芯片加工的质量检测装置

说明书

本实用新型公开了一种用于电子芯片加工的质量检测装置，包括光学检测仪本体，所述光学检测仪本体下表面设置有检测镜头，所述光学检测仪本体后表面设置有立块，所述立块下端设置有底座，所述底座下表面固定有支腿，所述光学检测仪本体侧表面开设有导向槽，所述导向槽内侧设置有连接滑块，所述连接滑块一侧壁固定有防护板；通过设置有防护板、卡槽、连接滑槽、挡块、弹簧及导向槽，便于避免外侧物体直接与检测镜头发生接触碰撞，便于提高检测镜头的安全性，通过设置有耐磨铸铁、第一铷磁铁、定位柱、第二铷磁铁及凹槽，便于避免支腿下表面磨损后，对支腿下表面单独维护不便。

技术领域

本实用新型属于芯片质量检测技术领域，具体涉及一种用于电子芯片加工的质量检测装置。

背景技术

电子芯片在电子学中是一种将电路（主要包括半导体设备，也包括被动组件等）小型化的方式，在对电子芯片检测过程中一般通过光学检测仪进行，便于对焊接生产中遇到的常见缺陷进行检测，有些可以对工件尺寸、形状和位置公差进行精密检测，便于完成质量检测任务。

现有的用于电子芯片加工的质量检测装置在使用过程中，检测镜头处没有很好的防护机构，在检测时或者在设备停放不用时，外侧物体可能会与检测镜头发生接触碰撞，影响检测镜头的安全性，维护成本高，另外设备下表面支腿经常与放置面发生接触，会造成下表面光滑，影响设备放置的稳定性，不便于对支腿下表面进行单独维护，为此我们提出一种用于电子芯片加工的质量检测装置。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种用于电子芯片加工的质量检测装置，以解决上述背景技术中提出现有的用于电子芯片加工的质量检测装置在使用过程中，检测镜头处没有很好的防护机构，在检测时或者在设备停放不用时，外侧物体可能会与检测镜头发生接触碰撞，影响检测镜头的安全性，维护成本高，另外设备下表面支腿经常与放置面发生接触，会造成下表面光滑，影响设备放置的稳定性，不便于对支腿下表面进行单独维护的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种用于电子芯片加工的质量检测装置，包括光学检测仪本体，所述光学检测仪本体下表面设置有检测镜头，所述光学检测仪本体后表面设置有立块，所述立块下端设置有底座，所述底座下表面固定有支腿，所述光学检测仪本体侧表面开设有导向槽，所述导向槽内侧设置有连接滑块，所述连接滑块一侧壁固定有防护板，所述光学检测仪本体前表面开设有连接滑槽，所述连接滑槽内侧一端固定有弹簧，所述弹簧一端表面固定有挡块，所述防护板内侧开设有卡槽，所述挡块与防护板通过卡槽进行配合连接，所述支腿下表面设置有耐磨机构。

优选的，所述耐磨机构包括耐磨铸铁、定位柱、第一铷磁铁及凹槽，所述支腿下表面开设有凹槽，所述凹槽内表面顶端固定有第一铷磁铁，所述第一铷磁铁下表面通过磁吸连接有第二铷磁铁，所述第二铷磁铁下表面固定有定位柱，所述定位柱下端一体成型有耐磨铸铁。

优选的，所述耐磨铸铁为板状结构，所述定位柱沿耐磨铸铁四周设置有四个。

优选的，所述耐磨铸铁厚度为三毫米到九毫米，所述耐磨铸铁下表面设置有防滑纹。

优选的，所述防护板横截面为“凵”字型，所述卡槽沿防护板长度方向等距设置有多个。

优选的，所述挡块设置有两个，两个所述挡块通过拉手块进行固定连接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

（1）通过设置有防护板、卡槽、连接滑槽、挡块、弹簧及导向槽，便于避免外侧物体直接与检测镜头发生接触碰撞，便于提高检测镜头的安全性，对防护板高度位置调整方便，易于使用。

（2）通过设置有耐磨铸铁、第一铷磁铁、定位柱、第二铷磁铁及凹槽，便于避免支腿下表面磨损后，对支腿下表面单独维护不便，便于对耐磨铸铁进行拆装，提高维护效率。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；