[实用新型]半导体器件有效

专利信息
申请号: 202021524866.X 申请日: 2020-07-29
公开(公告)号: CN213026136U 公开(公告)日: 2021-04-20
发明(设计)人: 韩广涛;葛薇薇 申请(专利权)人: 杰华特微电子(杭州)有限公司
主分类号: H01L29/73 分类号: H01L29/73;H01L29/40;H01L29/08
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 310030 浙江省杭州市西湖区三墩镇*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 半导体器件
【权利要求书】:

1.一种半导体器件,其特征在于,包括:

衬底和位于所述衬底上的体区,所述体区的上表面包括依次连接的集电区、基区和发射区,其中,

在所述集电区和所述基区区域中包括场氧区,在所述场氧区上包括场板结构,所述场板结构为阶梯场板结构,在所述集电区和所述基区区域中提供不同规格的调节电场。

2.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,

在所述半导体器件的纵截面上,所述集电区的尺寸大于所述基区的尺寸。

3.根据权利要求1或2所述的半导体器件,其特征在于,

在所述半导体器件的纵截面上,所述基区的尺寸大于所述发射区尺寸。

4.根据权利要求3所述的半导体器件,其特征在于,

在所述半导体器件的纵截面上,所述集电区和所述基区呈L形嵌套设置,所述发射区嵌套在所述基区的L形包围空间中。

5.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,

所述基区与基极电连接,所述场板结构与所述基极电连接。

6.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,

所述发射区连接导线电引出为所述半导体器件的发射极。

7.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,

所述集电区包括位于上表面的集电极引出区,所述基区上表面包括基极引出区,所述场氧区位于所述集电极引出区与所述基极引出区之间,隔离所述集电极引出区与所述基极引出区。

8.根据权利要求1或4所述的半导体器件,其特征在于,

在所述半导体器件的俯视面上,所述场板结构的投影区域与所述基区和所述集电区均相交。

9.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,

所述半导体器件为NPN型双极结型晶体管或PNP型双极结型晶体管。

10.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,

所述场氧区上还包括氧化物区,所述场板结构位于所述氧化物区上。

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