[实用新型]便携式数字集成电路测试仪有效
申请号: | 202021560240.4 | 申请日: | 2020-07-31 |
公开(公告)号: | CN212965289U | 公开(公告)日: | 2021-04-13 |
发明(设计)人: | 韦运碧;蒋伟;程小会;刘捷;黄河;蒙善生 | 申请(专利权)人: | 韦运碧 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04 |
代理公司: | 南宁市吉昌知识产权代理事务所(普通合伙) 45125 | 代理人: | 林鹏 |
地址: | 530000 广西壮*** | 国省代码: | 广西;45 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 便携式 数字集成电路 测试仪 | ||
1.便携式数字集成电路测试仪,包括箱体,其特征在于:还包括安装在箱体内的电压变换模块、处理器单元、液晶显示屏、第一测试芯片插座、第二测试芯片插座和第三测试芯片插座;
所述电压变换模块的输入端连接有电源,电压变换模块的输出端与处理器单元的供电端连接;所述电压变换模块连接有电源开关;所述处理器单元的输出端连接有调试串口,所述调试串口用于向处理器单元输入输出调试信号;所述液晶显示屏与处理器单元连接,用以显示待测芯片的测试结果;
所述第一测试芯片插座用以固定待测芯片并使待测芯片与处理器单元信号连接,且所述第一测试芯片插座在处理器单元的控制下可用于测试SN55182芯片是否存在故障;
所述第二测试芯片插座用以固定待测芯片并使待测芯片与处理器单元信号连接,且所述第二测试芯片插座在处理器单元的控制下可用于测试SN55110芯片是否存在故障;
所述第三测试芯片插座用以固定待测芯片并使待测芯片与处理器单元信号连接,且所述第三测试芯片插座在处理器单元的控制下可用于测试SN55107芯片是否存在故障。
2.根据权利要求1所述的便携式数字集成电路测试仪,其特征在于:还包括用于选定测试芯片插座的切换开关,所述切换开关的一端通过导线分别与第一测试芯片插座、第二测试芯片插座及第三测试芯片插座电连接,所述切换开关的另一端与处理器单元连接。
3.根据权利要求1所述的便携式数字集成电路测试仪,其特征在于:还包括用于控制第一测试芯片插座、第二测试芯片插座和第三测试芯片插座是否通电的控制开关,在控制开关的侧部安装有一工作指示灯。
4.根据权利要求1至3任一项所述的便携式数字集成电路测试仪,其特征在于:在各个测试芯片插座的一侧均安装有状态指示灯,所述状态指示灯由电压变换模块供电并与处理器单元连接。
5.根据权利要求1所述的便携式数字集成电路测试仪,其特征在于:所述处理器单元为STM32F103微处理器。
6.根据权利要求1所述的便携式数字集成电路测试仪,其特征在于:所述待测芯片的封装为双列直插式。
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