[实用新型]便携式数字集成电路测试仪

说明书

本实用新型公开了一种便携式数字集成电路测试仪，属于元件检测设备技术领域。本实用新型包括箱体，还包括安装在箱体内的电压变换模块、处理器单元、液晶显示屏、第一测试芯片插座、第二测试芯片插座和第三测试芯片插座。本实用新型在使用时：将待测芯片插装在对应的测试芯片插座上，并通过处理器单元判断待测芯片是否好坏，最后将判断结果显示在液晶显示屏上。与现有技术相比：本便携式数字集成电路测试仪能够对SN55182、SN55110、SN55107这三种芯片进行测试判别，能够快速确定测试芯片是否好坏，具有芯片故障排除效率高，结构简单，方便携带的有益效果。

技术领域

本实用新型涉及一种检测仪器，特别是一种能够离线检测芯片的便携式数字集成电路测试仪。

背景技术

随着电子时代的到来以及科技的快速发展，数字集成电路(即芯片)被广泛应用在各个领域中。在部队中，主战装备排故时，在没有数字集成电路测试仪的情况下，只能是根据故障现象、结合电路图判断哪几个芯片可能有故障，再从备件车上找出备份芯片进行更换，然后装备开机通电检查进行验证，有可能一个芯片故障，需要重复开机几次到十几次才能排除掉，耗时费力，效率不高。特别是SN55182、SN55110、SN55107 芯片在部队中应用广泛，并且容易发生故障，当装备芯片出现故障失去战斗力需要紧急维修时，有必要提供一种便携式并且能快速确定上述芯片故障的测试仪，使兵器能更快速恢复战斗力。

实用新型内容

本实用新型的发明目的是，针对上述问题，提供一种数字集成电路测试仪，它可以在离线状态下，对 SN55182、SN55110、SN55107这三种芯片进行判别，并快速地得到芯片是否存在故障的测试结果，具有结构简单、芯片故障检测效率高的特点。

为达到上述目的，本实用新型所采用的技术方案是：

便携式数字集成电路测试仪，包括箱体，还包括安装在箱体内的电压变换模块、处理器单元、液晶显示屏、第一测试芯片插座、第二测试芯片插座和第三测试芯片插座；

所述电压变换模块的输入端连接有电源，电压变换模块的输出端与处理器单元的供电端连接；所述电压变换模块连接有电源开关；所述处理器单元的输出端连接有调试串口，所述调试串口用于向处理器单元输入输出调试信号；所述液晶显示屏与处理器单元连接，用以显示待测芯片的测试结果；

所述第一测试芯片插座用以固定待测芯片并使待测芯片与处理器单元信号连接，且所述第一测试芯片插座在处理器单元的控制下可用于测试SN55182芯片的状态；

所述第二测试芯片插座用以固定待测芯片并使待测芯片与处理器单元信号连接，且所述第二测试芯片插座在处理器单元的控制下可用于测试SN55110芯片的状态；

所述第三测试芯片插座用以固定待测芯片并使待测芯片与处理器单元信号连接，且所述第三测试芯片插座在处理器单元的控制下可用于测试SN55107芯片的状态。

优选地，所述便携式数字集成电路测试仪,还包括用于选定测试芯片插座的切换开关，所述切换开关的一端通过导线分别与第一测试芯片插座、第二测试芯片插座及第三测试芯片插座电连接，所述切换开关的另一端与处理器单元连接。

进一步地，所述便携式数字集成电路测试仪,还包括用于控制第一测试芯片插座、第二测试芯片插座和第三测试芯片插座是否通电的控制开关，在控制开关的侧部安装有一工作指示灯。

上述方案中，可在各个测试芯片插座的一侧均安装有状态指示灯，所述状态指示灯由电压变换模块供电并与处理器单元连接。

作为优选实施方式，所述处理器单元为STM32F103微处理器。

本实用新型在使用时，当所述待测芯片的封装为双列直插式可提高测试准确性和操作的便携。

由于采用上述技术方案，本实用新型具有以下有益效果：