[实用新型]一种半导体功率器件测试的装置有效
申请号: | 202021587744.5 | 申请日: | 2020-08-03 |
公开(公告)号: | CN212872754U | 公开(公告)日: | 2021-04-02 |
发明(设计)人: | 王玉桃 | 申请(专利权)人: | 常州银河世纪微电子股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01R1/04 |
代理公司: | 常州市科谊专利代理事务所 32225 | 代理人: | 孙彬 |
地址: | 213022 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 半导体 功率 器件 测试 装置 | ||
本实用新型公开了一种半导体功率器件测试的装置,它包括大板、器件承载板、活动支架和探针组件,所述大板的中部开设有滑槽,所述器件承载板可在滑槽中移动,所述滑槽的两侧分别设置有支撑杆,所述活动支架套设在支撑杆上并可在支撑杆上滑动,所述支撑杆上套设有弹簧,所述弹簧的一端抵接在大板上,所述弹簧的另一端抵接在活动支架上,所述探针组件固定在活动支架的与大板相对的一面。本实用新型提供一种半导体功率器件测试的装置,它可以提高传统测试的准确性,提高工作效率。
技术领域
本实用新型涉及一种半导体功率器件测试的装置,属于半导体功率器件测试技术领域。
背景技术
目前,半导体功率器件在出厂前需要进行各项参数测试,检验合格后方可出厂,半导体功率器件在测试时为人工手动操作,通过手持探针对每个半导体功率器件进行测试,但是这种方式只适合小批量的测试,测量准确性低,工作效率较低,生产成本提高,不能适应大批量的测试需求。
发明内容
本实用新型所要解决的技术问题是,克服现有技术的不足,提供一种半导体功率器件测试的装置,它可以提高传统测试的准确性,提高工作效率。
为了解决上述技术问题,本实用新型的技术方案是:
一种半导体功率器件测试的装置,它包括大板、器件承载板、活动支架和探针组件,所述大板的中部开设有滑槽,所述器件承载板可在滑槽中移动,所述滑槽的两侧分别设置有支撑杆,所述活动支架套设在支撑杆上并可在支撑杆上滑动,所述支撑杆上套设有弹簧,所述弹簧的一端抵接在大板上,所述弹簧的另一端抵接在活动支架上,所述探针组件固定在活动支架的与大板相对的一面。
进一步,所述探针组件包括安装板和若干探针,所述安装板的一面与活动支架固定连接,若干所述探针固定在安装板的另一面。
进一步,所述活动支架的两端固定有轴套,所述活动支架通过轴套与支撑杆滑动连接。
进一步,所述器件承载板的底面与大板的滑槽滑动连接,所述器件承载板的顶面开设有若干条用于放置半导体功率器件的凹槽。
进一步,所述活动支架上设置有把手。
采用了上述技术方案,本实用新型将半导体功率器件批量放置在可滑动的器件承载板中,通过器件承载板上方的探针组件对半导体功率器件进行批量测试,省时省力,测试效率高,从而降低企业成本,提高工作效率。
附图说明
图1为本实用新型的一种半导体功率器件测试的装置的主视图;
图2为本实用新型的一种半导体功率器件测试的装置的俯视图;
图3为图2的右视图;
图4为图2的侧视图;
图5为本实用新型的探针组件的安装示意图。
具体实施方式
为了使本实用新型的内容更容易被清楚地理解,下面根据具体实施例并结合附图,对本实用新型作进一步详细的说明。
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