[实用新型]一种用于芯片测试中的探针更换结构

权利要求书

1.一种用于芯片测试中的探针更换结构，包括机架，所述机架上固定有工作台，所述工作台上具有用于固定芯片的固定结构，其特征在于，还包括固定架、第一推杆电机、第二推杆电机、移动板，固定架固定在机架上，所述的移动板水平滑动设置在固定架上，所述的第一推杆电机固定在固定架上，第一推杆电机的推杆与移动板固定相连，所述的移动板上开设有若干孔组，每个孔组包括若干通孔，通孔内固定有导向筒，导向筒内滑动设置有升降块，升降块通过拉簧与导向筒固定相连，所述的升降块上可拆卸设置有第一探针，所述的第二推杆电机固定在固定架上，第二推杆电机的推杆上固定有探针卡，探针卡上具有若干第二探针，第二探针能够插入导向筒与第一探针接触并对其向下挤压。

2.根据权利要求1所述的用于芯片测试中的探针更换结构，其特征在于，所述的升降块成圆柱状，升降块中部具有穿设孔，第一探针上端具有限位块，该限位块能够在第一探头插入穿设孔后与升降块上部抵靠。

3.根据权利要求1所述的用于芯片测试中的探针更换结构，其特征在于，所述的导向筒内壁上开设有容置槽，所述的拉簧设置在容置槽内。

4.根据权利要求1所述的用于芯片测试中的探针更换结构，其特征在于，所述的导向筒上部还设置有保护结构，保护结构包括升降筒，所述升降筒滑动设置在导向筒内，升降筒位于升降块的上方，在探针卡下压时，探针卡上的第二探针穿入过升降筒，并与第一探针的上端的限位块抵靠。

5.根据权利要求4所述的用于芯片测试中的探针更换结构，其特征在于，所述的升降筒上部具有导向部。