[实用新型]一种用于芯片测试中的探针更换结构

说明书

本实用新型提供了一种用于芯片测试中的探针更换结构，属于机械技术领域。一种用于芯片测试中的探针更换结构，包括机架，所述机架上固定有工作台，所述工作台上具有用于固定芯片的固定结构，还包括固定架、第一推杆电机、第二推杆电机、移动板，固定架固定在机架上，移动板水平滑动设置在固定架上，第一推杆电机固定在固定架上，第一推杆电机的推杆与移动板固定相连，移动板上开设有若干孔组，每个孔组包括若干通孔，通孔内固定有导向筒，导向筒内滑动设置有升降块，升降块通过拉簧与导向筒固定相连，升降块上可拆卸设置有第一探针，第二推杆电机固定在固定架上。本实用新型具有在使用时不需要更换探针，可连续使用的优点。

技术领域

本实用新型属于机械技术领域，特别是一种用于芯片测试中的探针更换结构。

背景技术

为了检测出失效或者半失效的芯片，芯片检测环节必不可少。现有的芯片测试装置直接使用探测卡进行检测，极易造成探测卡上的探测针磨损及弯曲，进而影响检测的正确率，且每次探针卡报废后需要停止设备，然后对探针卡进行手动更换，更换时需要将整一个探针卡更换，增加了成本，且更换探针卡需要较长的时间进行调试。

发明内容

本实用新型的目的是针对现有的技术存在上述问题，提出了一种用于芯片测试中的探针更换结构，解决了探针容易磨损，更换探针卡费时间的问题。

本实用新型的目的可通过下列技术方案来实现：

一种用于芯片测试中的探针更换结构，包括机架，所述机架上固定有工作台，所述工作台上具有用于固定芯片的固定结构，其特征在于，还包括固定架、第一推杆电机、第二推杆电机、移动板，固定架固定在机架上，所述的移动板水平滑动设置在固定架上，所述的第一推杆电机固定在固定架上，第一推杆电机的推杆与移动板固定相连，所述的移动板上开设有若干孔组，每个孔组包括若干通孔，通孔内固定有导向筒，导向筒内滑动设置有升降块，升降块通过拉簧与导向筒固定相连，所述的升降块上可拆卸设置有第一探针，所述的第二推杆电机固定在固定架上，第二推杆电机的推杆上固定有探针卡，探针卡上具有若干第二探针，第二探针能够插入导向筒与第一探针接触并对其向下挤压。

在上述用于芯片测试中的探针更换结构中，所述的升降块成圆柱状，升降块中部具有穿设孔，第一探针上端具有限位块，该限位块能够在第一探头插入穿设孔后与升降块上部抵靠。

在上述用于芯片测试中的探针更换结构中，所述的导向筒内壁上开设有容置槽，所述的拉簧设置在容置槽内。

在上述用于芯片测试中的探针更换结构中，所述的导向筒上部还设置有保护结构，保护结构包括升降筒，所述升降筒滑动设置在导向筒内，升降筒位于升降块的上方，在探针卡下压时，探针卡上的第二探针穿入过升降筒，并与第一探针的上端的限位块抵靠。

在上述用于芯片测试中的探针更换结构中，所述的升降筒上部具有导向部。

与现有技术相比，本实用新型具有以下优点：

该设计能够在一段时间内不需要更换第一探针，在第一排的第一探针使用报废后，通过第一推杆电机将后面的第一探针移动至探针卡的正下方，可以使设备连续性的进行工作，大大的减少更换探针卡的时间，同时增大了探测卡的使用寿命。

附图说明

图1是本实用新型的示意图。

图2是本实用新型中移动板的示意图。

图3是本实用新型中第一探针拔出后的示意图。

图中，1、机架；2、第一推杆电机；3、第二推杆电机；4、移动板；4a、通孔；5、导向筒；6、拉簧；7、第一探针；8、升降块；9、探针卡；9a、第二探针；10、穿设孔；11、限位块；12、容置槽；13、升降筒；13a、导向部。

具体实施方式