[实用新型]一种用于ASIC芯片的测试装置

权利要求书

1.一种用于ASIC芯片的测试装置，包括安装板(1)，其特征在于：所述安装板(1)的顶部固定连接有放置台(5)，所述放置台(5)的顶部分别开设有放置槽(3)和滑动槽(7)，所述放置槽(3)的内腔活动连接有夹板(6)，所述夹板(6)的左侧分别固定连接有弹簧(4)和活动杆(18)，所述活动杆(18)的左侧贯穿至滑动槽(7)的内腔并固定连接有推把(2)，所述推把(2)的顶部延伸至滑动槽(7)的顶部，所述安装板(1)顶部的两侧均固定连接有支撑板(8)，所述支撑板(8)的顶部固定连接有横板(12)，所述横板(12)的顶部固定连接有测试器(13)，所述横板(12)底部的两侧均固定连接有电动伸缩杆(14)，所述电动伸缩杆(14)的底部固定连接有固定板(15)，所述固定板(15)的底部固定连接有壳体(16)，所述壳体(16)的底部开设有开口，所述壳体(16)的内腔活动连接有活动块(21)，所述活动块(21)的底部固定连接有连接块(19)，所述连接块(19)的底部贯穿至开口的底部并固定连接有安装壳(9)，所述安装壳(9)的内腔活动连接有缓冲弹簧(20)，所述缓冲弹簧(20)的底部活动连接有测试探杆(17)，所述测试探杆(17)的底部贯穿至安装壳(9)的底部，所述壳体(16)的前侧贯穿活动连接有定位螺栓(11)。

2.根据权利要求1所述的一种用于ASIC芯片的测试装置，其特征在于：两个支撑板(8)相对的一侧均固定连接有照明灯(10)，所述活动杆(18)的表面与放置台(5)的连接处活动连接。

3.根据权利要求1所述的一种用于ASIC芯片的测试装置，其特征在于：所述滑动槽(7)的内腔与推把(2)的连接处活动连接，所述弹簧(4)的左侧与放置槽(3)的内腔固定连接。

4.根据权利要求1所述的一种用于ASIC芯片的测试装置，其特征在于：所述定位螺栓(11)的表面与壳体(16)的连接处螺纹连接，所述测试探杆(17)的表面与安装壳(9)的连接处活动连接。

5.根据权利要求1所述的一种用于ASIC芯片的测试装置，其特征在于：所述放置槽(3)和滑动槽(7)的数量均为三个，所述测试探杆(17)与测试器(13)之间电性连接。

6.根据权利要求1所述的一种用于ASIC芯片的测试装置，其特征在于：所述壳体(16)的数量为三个，且位于放置槽(3)的正上方，所述安装板(1)底部的四角均固定连接有支撑台，所述夹板(6)为橡胶材质。