[实用新型]一种用于ASIC芯片的测试装置

说明书

本实用新型公开了一种用于ASIC芯片的测试装置，包括安装板，所述安装板的顶部固定连接有放置台，所述放置台的顶部分别开设有放置槽和滑动槽，所述放置槽的内腔活动连接有夹板，所述夹板的左侧分别固定连接有弹簧和活动杆，所述活动杆的左侧贯穿至滑动槽的内腔并固定连接有推把，所述安装板顶部的两侧均固定连接有支撑板。本实用新型通过设置安装板、推把、放置槽、弹簧、放置台、夹板、滑动槽、支撑板、安装壳、照明灯、定位螺栓、横板、测试器、电动伸缩杆、固定板、壳体、测试探杆、活动杆、连接块、缓冲弹簧和活动块的配合使用，具备缓冲功能，避免测试时芯片破损，能够对不同体积的芯片进行固定的优点。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体为一种用于ASIC芯片的测试装置。

背景技术

芯片是半导体元件产品的统称，又称微电路、微芯片或集成电路，在电子学中是一种将电路(主要包括半导体设备，也包括被动组件等)小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上。

ASIC芯片是芯片的一种，用于供专门应用的集成电路芯片技术，在集成电路界被认为是一种为专门目的而设计的集成电路，ASIC芯片在制成后需要通过测试装置对其进行光电特性测试，现有的测试装置探杆不具备缓冲功能，当探杆与芯片接触时，芯片受到挤压容易破损，而且不方便对不同体积大小的芯片进行固定，通用性较差。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种用于ASIC芯片的测试装置，具备缓冲功能，避免测试时芯片破损，能够对不同体积的芯片进行固定的优点，解决了现有的测试装置不具备缓冲功能，芯片容易破损，不方便对不同体积的芯片进行固定的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种用于ASIC芯片的测试装置，包括安装板，所述安装板的顶部固定连接有放置台，所述放置台的顶部分别开设有放置槽和滑动槽，所述放置槽的内腔活动连接有夹板，所述夹板的左侧分别固定连接有弹簧和活动杆，所述活动杆的左侧贯穿至滑动槽的内腔并固定连接有推把，所述推把的顶部延伸至滑动槽的顶部，所述安装板顶部的两侧均固定连接有支撑板，所述支撑板的顶部固定连接有横板，所述横板的顶部固定连接有测试器，所述横板底部的两侧均固定连接有电动伸缩杆，所述电动伸缩杆的底部固定连接有固定板，所述固定板的底部固定连接有壳体，所述壳体的底部开设有开口，所述壳体的内腔活动连接有活动块，所述活动块的底部固定连接有连接块，所述连接块的底部贯穿至开口的底部并固定连接有安装壳，所述安装壳的内腔活动连接有缓冲弹簧，所述缓冲弹簧的底部活动连接有测试探杆，所述测试探杆的底部贯穿至安装壳的底部，所述壳体的前侧贯穿活动连接有定位螺栓。

优选的，所述两个支撑板相对的一侧均固定连接有照明灯，所述活动杆的表面与放置台的连接处活动连接。

优选的，所述滑动槽的内腔与推把的连接处活动连接，所述弹簧的左侧与放置槽的内腔固定连接。

优选的，所述定位螺栓的表面与壳体的连接处螺纹连接，所述测试探杆的表面与安装壳的连接处活动连接。

优选的，所述放置槽和滑动槽的数量均为三个，所述测试探杆与测试器之间电性连接。

优选的，所述壳体的数量为三个，且位于放置槽的正上方，所述安装板底部的四角均固定连接有支撑台，所述夹板为橡胶材质。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：

1、本实用新型通过设置安装板、推把、放置槽、弹簧、放置台、夹板、滑动槽、支撑板、安装壳、照明灯、定位螺栓、横板、测试器、电动伸缩杆、固定板、壳体、测试探杆、活动杆、连接块、缓冲弹簧和活动块的配合使用，具备缓冲功能，避免测试时芯片破损，能够对不同体积的芯片进行固定的优点，值得推广。

2、本实用新型通过设置照明灯，能够方便在光线较暗的环境下进行检测工作；

通过设置支撑台，能够避免安装板直接与桌面接触；